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原文传递三色光源共光轴颗粒粒度测量装置

专利名称：	三色光源共光轴颗粒粒度测量装置
摘要：	一种三色光源共光轴颗粒粒度测量装置，包括三色光源、循环样品池、接收单元和信号处理单元四部分；三色光源由光纤激光光源、He‑Ne激光管、LED光源、短焦距傅里叶透镜、闪耀光栅、宽带反射镜和长焦距傅里叶透镜组成；循环样品池以可拆卸方式安装在主光路中，并可沿主光轴方向移动；接收单元包含多个光电探头，以多个分离的方式设置在长焦距傅里叶透镜后焦平面处，以及在以循环样品池为中心的、与光轴成规定角度的圆周上；所述的信号处理单元由数据处理单元和控制单元组成。本发明用于弥补现存衍射散射式颗粒粒度测量法光学结构复杂、校准难度大的不足，解决粒径范围在10nm‑3500μm内固体或液体颗粒的粒度测量问题。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	中国科学院上海光学精密机械研究所
发明人：	何兵;牛夏夏;杨依枫
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-19T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-26T00:00:00+0800
申请号：	CN201910206205.8
公开号：	CN110057726A
代理机构：	上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：	张宁展
分类号：	G01N15/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	201800 上海市嘉定区清河路390号
主权项：	1.一种三色光源共光轴颗粒粒度测量装置，其特征在于包括三色光源、循环样品池、接收单元和信号处理单元四部分；所述的三色光源包括光纤激光光源(1)、He-Ne激光管(2)、LED光源(3)、短焦距傅里叶透镜(4)、闪耀光栅(5)、宽带反射镜(6)和长焦距傅里叶透镜(7)，所述的光纤激光光源(1)、He-Ne激光管(2)和LED光源(3)分别放置在所述的短焦距傅里叶透镜(4)的前焦平面位置，所述的闪耀光栅(5)放置在所述的短焦距傅里叶透镜(4)的后焦平面位置，三种光源输出的发散光束通过所述的短焦距傅里叶透镜(4)准直并按照波长所对应的角度入射至闪耀光栅(5)，经闪耀光栅(5)合为一束光后，衍射至所述的宽带反射镜(6)，经该宽带反射镜(6)反射至所述的长焦距傅里叶透镜(7)，经该长焦距傅里叶透镜(7)汇聚后射入所述的循环样品池(8)；所述的接收单元包括环形光电探头阵列(9)和多个光电探头，所述的环形光电探头阵列设置在所述的长焦距傅里叶透镜(7)的后焦平面位置，所述的光电探头均匀分布在以所述的循环样品池(8)的入射光为圆心的圆周上；所述的循环样品池(8)以可拆卸方式安装在所述的长焦距傅里叶透镜(7)与环形光电探头阵列(9)之间，并可沿光轴前后移动；所述的信号处理单元与所述的接收单元相连。 2.根据权利要求1所述的三色光源共光轴颗粒粒度测量装置，其特征在于，所述的环形光电探头阵列(9)用于探测近光轴位置小角度衍射散射光信号。 3.根据权利要求1所述的三色光源共光轴颗粒粒度测量装置，其特征在于，所述的光电探头用以探测循环样品池周边大角度衍射散射光，辅助进行小颗粒高精度粒度测量。 4.根据权利要求3所述的三色光源共光轴颗粒粒度测量装置，其特征在于，所述的光电探头包括背向大角度光电探头和前向大角度光电探头。 5.根据权利要求1所述的三色光源共光轴颗粒粒度测量装置，其特征在于，所述的信号处理单元包括依次相连的数据处理单位(12)和控制单元(13)。 6.根据权利要求1-5任一所述的三色光源共光轴颗粒粒度测量装置，其特征在于所述的光纤激光光源(1)输出的光源波长为1μm，所述的He-Ne激光管(2)输出的光源波长为632.8nm，所述的LED光源(3)输出的光源波长为400nm，三色光源相互平行。 7.根据权利要求1-6任一所述的三色光源共光轴颗粒粒度测量装置，其特征在于所述的闪耀光栅为金属镀膜闪耀光栅。
所属类别：	发明专利