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原文传递纳米材料吸光度测试装置、稳定期测试方法、系统及装置

专利名称：	纳米材料吸光度测试装置、稳定期测试方法、系统及装置
摘要：	本发明公开一种纳米材料吸光度测试装置、稳定期测试方法、系统及装置。吸光度测试装置包括旋转样品舱、狭缝光栅、雪崩光电二极管传感器和光束发生器。旋转样品舱能够在水平面内旋转；光束发生器设置在水平面上方，旋转样品舱位于光束发生器的正下方时，光束能够覆盖旋转样品舱中的待测纳米分散液；狭缝光栅正对光束发生器设置在水平面下方，雪崩光电二极管传感器设置在狭缝光栅的正下方。本发明的吸光度测试装置，可快速测量纳米分散液在不同时刻的吸光度变化情况。本发明提供的纳米分散液稳定期测试方法、系统及装置，能够根据样品舱中纳米分散液透光率的变化来快速确定出分散液的稳定性以及稳定期，检测效率高，误差小，适合工艺生产。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	上海景瑞阳实业有限公司
发明人：	段兴汉;武桐
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-23T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-26T00:00:00+0800
申请号：	CN201910434631.7
公开号：	CN110057788A
代理机构：	北京高沃律师事务所
代理人：	程华
分类号：	G01N21/59(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	201315 上海市浦东新区秀浦路3188弄66号3、4楼
主权项：	1.一种纳米分散液吸光度测试装置，其特征在于，所述吸光度测试装置包括：旋转样品舱、狭缝光栅、雪崩光电二极管传感器和光束发生器；其中，所述旋转样品舱用于盛放待测纳米分散液，所述旋转样品舱能够在水平面内旋转；所述光束发生器设置在所述水平面的上方，所述旋转样品舱位于所述光束发生器的正下方时，所述光束发生器发出的光束能够覆盖所述旋转样品舱中的待测纳米分散液；所述狭缝光栅正对所述光束发生器设置在所述水平面的下方，所述雪崩光电二极管传感器设置在所述狭缝光栅的正下方。 2.根据权利要求1所述的吸光度测试装置，其特征在于，所述吸光度测试装置还包括Zeta电位测量仪，所述Zeta电位测量仪用于测量所述待测纳米分散液的Zeta电位。 3.根据权利要求2所述的吸光度测试装置，其特征在于，所述吸光度测试装置还包括离心设备，所述旋转样品舱包括样品舱固定支架、旋转支点和样品舱，所述样品舱固设于所述样品舱固定支架上，所述样品舱固定支架与所述旋转支点固定连接，所述离心设备与所述旋转支点连接，所述离心设备通过所述旋转支点带动所述样品舱固定支架旋转，以使所述样品舱中盛放的所述待测纳米分散液进行离心运动。 4.根据权利要求3所述的吸光度测试装置，其特征在于，所述样品舱为石英管，直径范围为1-10mm。 5.根据权利要求3所述的吸光度测试装置，其特征在于，所述光束发生器发出的光源波长为400-2000nm。 6.一种纳米分散液稳定期测试方法，其特征在于，所述稳定期测试方法用于权利要求2-5任一项所述的吸光度测试装置，所述稳定期测试方法包括：获取待测纳米分散液的Zeta电位值；判断所述Zeta电位值是否大于±40毫伏，获得判断结果；当所述判断结果表示是时，获取不同时刻雪崩光电二极管传感器测量的透射光强度和入射光强度；根据所述透射光强度和所述入射光强度确定不同时刻待测纳米分散液的吸光度；根据不同时刻的吸光度确定所述待测纳米分散液的稳定期。 7.根据权利要求6所述的分散液稳定期测试方法，其特征在于，所述根据不同时刻的吸光度确定所述待测纳米分散液的稳定期，具体包括：绘制不同时刻的吸光度变化曲线；选取起始时刻的所述吸光度变化曲线的拐点为起始点；选取终止时刻的吸光度变化曲线的拐点为终止点；根据所述起始点和所述终止点确定待测纳米分散液粒子的移动距离；根据所述移动距离、所述起始时刻和所述终止时刻确定粒子相对液体的移动速率；根据粒子相对液体的移动速率与重力加速度的比值确定粒子在一倍重力加速度下的移动速率；根据粒子在一倍重力加速度下的移动速率和样品舱中液面最高处与样品舱底部的距离确定稳定期。 8.一种纳米分散液稳定期测试系统，其特征在于，所述稳定期测试系统用于权利要求2-5任一项所述的吸光度测试装置，所述稳定期测试系统包括：电位值获取模块，用于获取待测纳米分散液的Zeta电位值；判断模块，用于判断所述Zeta电位值是否大于±40毫伏，获得判断结果；光强获取模块，用于当所述判断结果表示是时，获取不同时刻雪崩光电二极管传感器测量的透射光强度和入射光强度；吸光度确定模块，用于根据所述透射光强度和所述入射光强度确定不同时刻待测纳米分散液的吸光度；稳定期确定模块，用于根据不同时刻的吸光度确定所述待测纳米分散液的稳定期。 9.一种纳米分散液稳定期测试装置，其特征在于，所述稳定期测试装置包括：权利要求2-5任一项所述的吸光度测试装置和处理器，所述处理器与Zeta电位测量仪和所述雪崩光电二极管传感器连接，所述处理器用于执行权利要求6-7任一项所述的纳米分散液稳定期测试方法的步骤。
所属类别：	发明专利