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原文传递通过分析物检测系统提供部分样品的原位化学转换和电离的方法及分析物检测系统

专利名称：	通过分析物检测系统提供部分样品的原位化学转换和电离的方法及分析物检测系统
摘要：	本发明涉及分析物检测领域，具体公开了一种通过分析物检测系统提供部分样品的原位化学转换和电离的方法及分析物检测系统。该方法包括经入口将气体引入所述分析物检测系统的电离源。该方法进一步包括在所述电离源内产生离子并引导所述气体和生成的离子通过并离开所述电离源并通向所述样品。所述样品在周围环境中位于所述电离源的近端。所述离子与所述样品发生化学反应，并从所述样品中解吸和电离分析物，所述分析物由所述无机氧化剂生成，所述被解吸的分析物具有比所述无机氧化剂更低的熔点和/或更高的解吸动力学。该方法进一步包括通过所述分析物检测系统的分析仪接收所述被解吸的分析物。本发明相比常规实施的检测方法提高了检测灵敏度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	加拿大;CA
申请人：	蒙特利尔史密斯安检仪公司
发明人：	J·亨德里克瑟;V·罗门诺夫
专利状态：	有效
申请日期：	2014-07-24T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-26T00:00:00+0800
申请号：	CN201811594482.2
公开号：	CN110057616A
代理机构：	北京润平知识产权代理有限公司
代理人：	严政;刘兵
分类号：	G01N1/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N1
申请人地址：	加拿大安大略
主权项：	1.一种通过分析物检测系统提供部分样品的原位化学转换和电离的方法，该方法包括：通过电离源的入口将气体引入分析检测系统的电离源；在所述电离源中生成离子；引导所述气体和生成的离子通过所述电离源；以及引导所述离子离开所述电离源并通向所述样品，所述样品位于所述电离源的近端，所述样品位于周围环境中；其中，所述离子与所述样品发生化学反应并从所述样品中解吸分析物，所述分析物由部分所述样品产生，所述部分样品比所述分析物更不易挥发。 2.根据权利要求1所述的方法，其中，该方法进一步包括：通过所述分析检测系统的分析仪接收被解吸的分析物，所述分析仪为离子迁移谱仪、质谱仪或它们的结合。 3.根据权利要求2所述的方法，其中，通过所述分析仪接收所述被解吸的分析物的步骤包括：通过所述分析物检测系统的毛细管接口接收所述被解吸的分析物；引导所述被解吸的分析物通过所述毛细管接口进入所述分析仪。 4.根据权利要求1-3中任意一项所述的方法，其中，所述生成离子的步骤包括：在所述电离源的第一电极和第二电极间施加电压以形成产生离子的电场；调节所述电场以调整所述生成的离子的能量和碎片度。 5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述第一电极和所述第二电极被介质阻挡隔开。 6.根据权利要求1-5中任意一项所述的方法，其中，所述部分样品为无机氧化剂。 7.根据权利要求6所述的方法，其中，所述无机氧化剂为氯酸盐或高氯酸盐。 8.根据权利要求1-7中任意一项所述的方法，其中，所述分析物具有低于所述部分样品的熔点。 9.根据权利要求1-8中任意一项所述的方法，其中，所述气体被循环和再循环通过所述电离源。 10.根据权利要求1-9中任意一项所述的方法，其中，所述离子为硝酸根离子或硝酸根簇离子。 11.根据权利要求1-10中任意一项所述的方法，其中，所述分析物为硝酸根-氯酸根离子、硝酰基高氯酸根离子或亚硝酰基高氯酸根离子。 12.根据权利要求1-11中任意一项所述的方法，其中，所述被解吸的分析物进行化学反应以形成氯酸根离子或高氯酸根离子。 13.一种通过分析物检测系统提供部分样品的原位化学转换和电离的方法，该方法包括：通过电离源的入口将气体引入分析检测系统的电离源；在所述电离源中生成离子，所述离子为硝酸根离子或硝酸根簇离子；引导所述气体和生成的离子通过所述电离源；引导所述离子离开所述电离源并通向所述样品，所述样品位于所述电离源的近端，所述样品位于周围环境中；以及通过所述分析检测系统的分析仪接收被解吸的分析物，所述分析仪为离子迁移谱仪、质谱仪或它们的结合；其中，所述离子与所述样品发生化学反应并从样品中解吸分析物，所述分析物由所述部分样品同时产生和电离，所述部分样品比所述分析物更不易挥发，所述部分样品为无机氧化剂，所述无机氧化剂为氯酸盐或高氯酸盐，所述分析物为硝酸-氯酸根离子、硝酰基高氯酸根离子或亚硝酰基高氯酸根离子。 14.根据权利要求13所述的方法，其中，通过所述分析仪接收所述被解吸的分析物的步骤包括：通过所述分析物检测系统的毛细管接口接收所述被解吸的分析物；引导所述被解吸的分析物通过所述毛细管接口进入所述分析仪。 15.根据权利要求13或14所述的方法，其中，所述生成离子的步骤包括：在所述电离源的第一电极和第二电极间施加电压以形成产生离子的电场。 16.根据权利要求13-15中任意一项所述的方法，其中，所述分析物具有低于所述部分样品的熔点。 17.一种分析物检测系统，该系统包括：电离源，所述电离源被配置为用于在所述电离源中生成离子，所述电离源进一步被配置为引导所述离子离开所述电离源并通向位于所述电离源近端的样品，所述样品位于周围环境中，其中，所述离子与所述样品发生化学反应并从所述样品中解吸分析物；分析仪，所述分析仪被配置为用于接收和分析从所述样品中被解吸的分析物，所述分析仪为质谱仪、离子迁移谱仪或它们的结合；其中，所述样品包括无机氧化剂，所述无机氧化剂为氯酸盐或高氯酸盐，所述被解吸的分析物从所述离子和所述无机氧化剂之间的化学反应中生成，所述被解吸的分析物比所述无机氧化剂更易挥发。 18.根据权利要求17所述的分析物检测系统，其中，所述电离源形成围绕所述分析仪入口的同心环。 19.根据权利要求17或18所述的分析物检测系统，其中，部分所述电离源形成所述分析仪的入口。 20.根据权利要求17-19中任意一项所述的分析物检测系统，其中，所述电离源为介质阻挡放电电离源或基于镍-63(Ni63)的电离源中的一种。
所属类别：	发明专利