专利名称: |
一种测定微纳米炸药晶体粉末比表面积的方法 |
摘要: |
本发明公开了一种测定微纳米炸药晶体粉末比表面积的方法。该方法包括如下步骤:首先将待测微纳米炸药晶体粉末装入石英样品盒,然后做小角散射测试,并对小角散射实验数据进行处理获得绝对强度散射曲线,然后通过Porod拟合和计算获得微纳米炸药晶体粉末的比表面积。本发明的测定微纳米炸药晶体粉末比表面积的方法是一种快速无损测定微纳米炸药晶体粉末比表面积的方法,具有快速、安全、绿色环保的优点。本发明测定的微纳米炸药晶体粉末比表面积是表征微纳米炸药晶体粉末微观形态特征的重要参数,可用于进一步深入探索炸药晶体粉末形态特征对其宏观感度、力学性能、爆燃特性等的影响。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
四川;51 |
申请人: |
中国工程物理研究院核物理与化学研究所 |
发明人: |
白亮飞;彭梅;宋攀奇;屠小青;孙光爱;龚建;邱丽莉;闫冠云;田强;曾贵玉 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-02-01T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-04-23T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910101962.9 |
公开号: |
CN109668816A |
代理机构: |
中国工程物理研究院专利中心 |
代理人: |
翟长明;韩志英 |
分类号: |
G01N15/08(2006.01);G;G01;G01N;G01N15 |
申请人地址: |
621999 四川省绵阳市919信箱208分箱 |
主权项: |
1.一种测定微纳米炸药晶体粉末比表面积的方法,其特征在于,所述的方法包括如下步骤: a.称取待测微纳米炸药晶体粉末并记录重量; b.将称取的待测微纳米炸药晶体粉末置于光程为0.5mm~5mm的小角散射专用样品容器中,并轻轻震荡直至装填均匀,记录装填高度,得到待测微纳米炸药晶体样品; c.对待测微纳米炸药晶体样品进行小角散射测试,获得待测微纳米炸药晶体样品的小角散射实验数据; d.对小角散射实验数据依次进行扣背底修正和绝对强度修正,获得绝对强度散射曲线; e.对绝对强度散射曲线做Porod拟合,计算获得微纳米炸药晶体粉末比表面积的绝对数值。 2.根据权利要求1所述的测定微纳米炸药晶体粉末比表面积的方法,其特征在于:所述的装填均匀是指待测炸药晶体粉末分散均匀,无分层断层。 3.根据权利要求1所述的测定微纳米炸药晶体粉末比表面积的方法,其特征在于:所述的小角散射为中子小角散射、X射线小角散射、超小角中子散射、超小角X射线散射中的一种或两种及以上。 |
所属类别: |
发明专利 |