详情

原文传递荧光检测器稳定性测定装置及测定方法

专利名称：	荧光检测器稳定性测定装置及测定方法
摘要：	本发明涉及一种荧光检测器稳定性测定装置的测定方法，该装置具有一个外壳，一个标准光传感器，一个标准光源，外壳内上部设有用于放置荧光检测器的左右两个安装凹槽，两个安装凹槽下方分别设有标准光源、标准光传感器，标准光源和标准光传感器上方分别置有衰减片，标准光源和标准光传感器通过主控板连接上位机，上位机通过主控板连接荧光检测器。本发明利用标准光传感器测定荧光检测器激发光源的稳定性能，利用前置衰减片的标准光源模拟微弱荧光以测定荧光检测模块的稳定性能。在两个测定过程中，均采用更换衰减片的技术方案消除标准光传感器或者标准光源自身漂移对测定结果的影响。本发明公开的测定装置及测定方法，为荧光的定量检测分析提供可靠依据。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	上海科源电子科技有限公司
发明人：	王义坤;郭彩虹;王振煜;袁旭军;张彦龙;陈伟源
专利状态：	有效
申请日期：	2019-01-04T00:00:00+0800
发布日期：	2019-04-23T00:00:00+0800
申请号：	CN201910007345.2
公开号：	CN109668865A
代理机构：	上海申汇专利代理有限公司
代理人：	王晶
分类号：	G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	201611 上海市松江区申港路2888弄10号楼
主权项：	1.一种荧光检测器稳定性测定装置，具有一个安装测定装置的外壳(7)，一个用于测定荧光检测器激发光源稳定性能的标准光传感器(3)，一个用于测定荧光检测器荧光检测稳定性能的标准光源(4)，其特征在于：所述外壳(7)内上部设有用于放置荧光检测器(1)的左右两个安装凹槽(2)，两个安装凹槽(2)下方分别设有标准光源(4)、标准光传感器(3)，标准光源(4)和标准光传感器(3)上方分别置有衰减片(5)，标准光源(4)和标准光传感器(3)通过主控板(6)连接上位机(8)，上位机(8)通过主控板(6)连接荧光检测器(1)。 2.根据权利要求1所述的荧光检测器稳定性测定装置，其特征在于：当荧光检测器(1)安装于右侧安装凹槽(2)时，所述上位机(8)通过主控板(6)控制荧光检测器(1)的激发光源模块(11)发出激发光，激发光经过衰减片(5)衰减后对准标准光传感器(3)的感光元件(31)，并被标准光传感器(3)感测，进而由主控板(6)采集并上传至上位机(8)进行分析处理。 3.根据权利要求1所述的荧光检测器稳定性测定装置，其特征在于：当荧光检测器(1)安装于左侧安装凹槽(2)时，所述上位机(8)通过主控板(6)控制标准光源(4)输出光，所述光经过衰减片(5)衰减后所模拟的微弱荧光进入荧光检测器(1)的荧光检测模块(12)，并被荧光检测模块(12)接收，进而由主控板(6)采集并上传至上位机(8)进行分析处理。 4.根据权利要求2或3所述的荧光检测器稳定性测定装置，其特征在于：在测定过程中，更换所述衰减片(5)，用于消除标准光传感器(3)或者标准光源(4)自身漂移对测定结果的影响。 5.一种权利要求1所述的荧光检测器稳定性测定装置的测定方法，其特征在于，包括步骤如下： 1)将荧光检测器(1)安装于右侧安装凹槽(2)中，利用上位机(8)通过主控板(6)控制荧光检测器(1)的激发光源模块(11)输出强度为I0的激发光； 2)在标准光传感器(3)前安装透过率为τ1的衰减片(5)，标准光传感器(3)的感光元件(31)接收激发光源模块(11)输出经衰减后的激发光，由主控板(6)采集并上传至上位机(8)； 3)上位机(8)长时间接收存储标准光传感器(3)感测的数据DN值，并计算得到安装透过率为τ1的衰减片(5)时的平均DN值，由于荧光检测器激发光源模块(11)的滤光片带宽为20nm，理想情况下标准光传感器(3)响应的DN值与激发光强度I成线性关系，线性系数为K，再考虑到标准光传感器(3)前放置的衰减片(5)以及激发光源模块(11)的自身漂移ΔI1和标准光传感器(3)的漂移ΔDN1，可以得到标准光传感器(3)第i次采集的响应值为： DN1i＝Kτ1(I0+ΔI1i)+ΔDN1i (1) 进而由公式(1)求得平均DN值的计算公式为： 4)在标准光传感器(3)前安装透过率为τ2，τ2>τ1的衰减片(5)，重复步骤2)～3)，计算得到安装透过率为τ2的衰减片(5)时的平均DN值，并同理推导出的计算公式为： 5)对于荧光检测器固定光强输出为I0的激发光源和标准光传感器(3)，相同的一长段时间内可以认为这两者的漂移固定，即和可以由上位机(8)的存储数据计算得到，再由公式(2)和公式(3)即可计算出消除标准光传感器(3)漂移后的激发光源的自身漂移为：即表征荧光检测器(1)的激发光源模块(11)输出激发光源的稳定性能； 6)将荧光检测器(1)安装于左侧安装凹槽(2)中，利用上位机(8)通过主控板(6)控制标准光源(4)输出强度为I0'的光； 7)在标准光源(4)前安装透过率为τ3的衰减片(5)，标准光源(4)经过衰减片(5)衰减后所模拟的荧光进入荧光检测器(1)的荧光检测模块(12)，被荧光检测模块(12)接收，进而由主控板(6)采集并上传至上位机(8)； 8)上位机(8)长时间接收存储荧光检测模块(12)感测的数据DN值，并计算得到安装透过率为τ3的衰减片(5)时的平均DN值，由于荧光检测器荧光检测模块(12)的滤光片带宽为20nm，理想情况荧光检测模块(12)响应的DN值与荧光强度I成线性关系，线性系数为K'，再考虑到标准光源(4)前放置的衰减片(5)以及荧光检测模块(12)的自身漂移ΔDN3和标准光源(4)的漂移ΔI3，可以得到荧光检测模块(12)第i次采集的响应值为： DN3i＝K'τ3(I0'+ΔI3i)+ΔDN3i (5) 进而由公式(5)求得平均DN值的计算公式为： 9)在标准光源(4)前安装透过率为τ4(τ4>τ3)的衰减片(5)，重复步骤7)～8)，计算得到安装透过率为τ4的衰减片(5)时的平均DN值，并同理推导出的计算公式为： 10)对于固定光强输出为I0'的标准光源(4)和荧光检测模块(12)，相同的一长段时间内可以认为这两者的漂移固定，即和可以由上位机(8)的存储数据计算得到，再由公式(6)和公式(7)即可计算出消除标准光源(4)漂移后的荧光检测模块(12)的自身漂移为：即表征荧光检测器(1)的荧光检测模块(12)的稳定性能。
所属类别：	发明专利