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一种基于平板对称结构的折射率传感器
| 专利名称： | 一种基于平板对称结构的折射率传感器 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于平板对称结构的折射率传感器，包括基底，基底上设有金属纳米结构，金属纳米结构包括两个沿横向间隔设置的且沿纵向对称设置的金属纳米线单元，各金属纳米线单元均包括沿纵向间隔设置的两个横向金属纳米线和连接于两个横向金属纳米线之间的竖向金属纳米线，各竖向金属纳米线和两个横向金属纳米线之间形成“工”字形结构，各竖向金属纳米线上横向设置有朝向另一个金属纳米线单元靠近并延伸的中间金属纳米线，各条金属纳米线的宽度均相等。将该结构的折射率传感器浸入待测溶液中，在该结构的上方打上一束垂直入射的测试光，就可以检测出溶液折射率并用散射暗态出现位置的波长值表示出来，该传感器灵敏度较高，结构简单，易加工。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 郑州大学 |
| 发明人： | 王俊俏;赵文涵;李冉;郜雅 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 1900-01-20T00:00:00+0805 |
| 发布日期： | 1900-01-20T14:00:00+0805 |
| 申请号： | CN201911420040.0 |
| 公开号： | CN111007036A |
| 代理机构： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 王学芝 |
| 分类号： | G01N21/41;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/41 |
| 申请人地址： | 450000 河南省郑州市高新技术开发区科学大道100号 |
| 主权项： | 1.一种基于平板对称结构的折射率传感器，其特征在于：包括基底，基底上设置有二聚体结构的金属纳米结构，金属纳米结构包括两个沿横向间隔设置的且沿纵向对称设置的金属纳米线单元，各金属纳米线单元均包括沿纵向间隔设置的两个横向金属纳米线和连接于两个横向金属纳米线之间的竖向金属纳米线，各金属纳米线单元的竖向金属纳米线和两个横向金属纳米线之间形成“工”字形结构，各金属纳米线单元的竖向金属纳米线上横向设置有朝向另一个金属纳米线单元靠近并延伸的中间金属纳米线，各条金属纳米线的宽度均相等。 2.根据权利要求1所述的基于平板对称结构的折射率传感器，其特征在于：所述基底上两个金属纳米线单元之间的间隙为20nm。 3.根据权利要求1所述的基于平板对称结构的折射率传感器，其特征在于：各条金属纳米线的宽度均为30nm。 4.根据权利要求1所述的基于平板对称结构的折射率传感器，其特征在于：所述金属纳米结构的厚度为10nm。 5.根据权利要求1所述的基于平板对称结构的折射率传感器，其特征在于：各所述横向金属纳米线的长度为90-260nm。 6.根据权利要求1所述的基于平板对称结构的折射率传感器，其特征在于：各所述中间金属纳米线的长度为20-140nm。 7.根据权利要求1所述的基于平板对称结构的折射率传感器，其特征在于：各所述纵向金属纳米线的长度为90nm。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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