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原文传递一种基于脉冲涡流技术的表面和埋深缺陷分类方法

专利名称：	一种基于脉冲涡流技术的表面和埋深缺陷分类方法
摘要：	本发明公开一种基于脉冲涡流技术的表面和埋深缺陷分类方法，步骤是：加工和待测试件具有相同材料和厚度的无缺陷试件和含有要求的最大埋深深度缺陷的缺陷试件，分别采集参考信号R0和参考缺陷信号R1，得到检测灵敏度在一个周期内的变化曲线，并将最大值对应的时刻作为最优信号提取时刻；对待测试件进行扫查，分别提取每一个周期响应信号中的峰值时刻t2值A0,A1,A2…An和最优信号提取时刻t1值B0,B1,B2…Bn，其中n为检测点的个数；分别归一化，绘制峰值时刻曲线和最优信号提取时刻曲线；当缺陷的峰值时刻曲线最小值小于最优信号提取时刻曲线最小值时，表明检测到的缺陷为表面缺陷，否则为埋深缺陷。此种分类方法可实现表面缺陷和埋深缺陷的快速实时自动识别。
专利类型：	发明专利
申请人：	南京航空航天大学
发明人：	葛玖浩;杨晨开
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T06:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
申请号：	CN202010009468.2
公开号：	CN111060588A
代理机构：	南京经纬专利商标代理有限公司
代理人：	葛潇敏
分类号：	G01N27/90;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/90
申请人地址：	210016 江苏省南京市秦淮区御道街29号
主权项：	1.一种基于脉冲涡流技术的表面和埋深缺陷分类方法，其特征在于包括如下步骤：步骤1，获取最优信号提取时刻；具体步骤是：步骤11，根据待测试件的材料和厚度，加工具有相同材料和厚度的无缺陷试件和含有要求的最大埋深深度缺陷的缺陷试件，组成标准试件组；步骤12，将脉冲涡流探头放置在标准试件组中无缺陷试件的任意位置，提取水平方向磁场一个周期的脉冲响应信号，作为参考信号R0；将脉冲涡流探头放置在标准试件组中缺陷试件的埋深缺陷上方，提取水平方向磁场一个周期的脉冲响应信号，作为参考缺陷信号R1；步骤13，将参考缺陷信号R1与参考信号R0做差，再将两者之差除以参考信号R0，得到埋深缺陷检测灵敏度在一个周期内的变化曲线；步骤14，将所得到的灵敏度曲线最大值对应的时刻，作为最优信号提取时刻t1；步骤2，采用脉冲涡流探头对待测试件进行扫查，在每一个检测点均提取水平方向磁场一个周期的脉冲响应信号，分别提取每一个周期响应信号中的峰值时刻t2值A0,A1,A2…An和最优信号提取时刻t1值B0,B1,B2…Bn，其中n为检测点的个数；步骤3，将提取的每一个峰值时刻值A0,A1,A2…An除以第一标准值As，得到归一化峰值时刻值，并绘制峰值时刻曲线；将提取的每一个最优信号提取时刻值B0,B1,B2…Bn除以第二标准值Bs，得到归一化最优信号提取时刻值，并绘制最优信号提取时刻曲线；步骤4，对比分析峰值时刻曲线和最优信号提取时刻曲线最小值关系，当缺陷的峰值时刻曲线最小值小于最优信号提取时刻曲线最小值时，表明检测到的缺陷为表面缺陷；当缺陷的峰值时刻曲线最小值大于最优信号提取时刻曲线最小值时，表明检测到的缺陷为埋深缺陷。 2.如权利要求1所述的基于脉冲涡流技术的表面和埋深缺陷分类方法，其特征在于：所述步骤3中，以初始峰值时刻值A0作为第一标准值As。 3.如权利要求1所述的基于脉冲涡流技术的表面和埋深缺陷分类方法，其特征在于：所述步骤3中，以初始最优信号提取时刻值B0作为第二标准值Bs。
所属类别：	发明专利