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原文传递基于探测梳原理的高频率分辨率阵列化太赫兹成像系统

专利名称：	基于探测梳原理的高频率分辨率阵列化太赫兹成像系统
摘要：	本发明公开一种基于探测梳原理的高频率分辨率阵列化太赫兹成像系统，包括：太赫兹探测器阵列，该太赫兹探测器阵列是将工作在不同中心频率f1、…、fN、能提高太赫兹信号选通特性的太赫兹选频结构分别与太赫兹探测器结合，形成能实现工作在不同中心频率的探测器，然后布局在同一衬底空间上形成；其中，单一探测器实现对单个太赫兹频率点或绝对带宽小于0.1THz的窄频率范围的探测。本发明提出的基于探测梳原理的新型阵列化太赫兹成像系统，不仅可以鉴别物质是否在太赫兹频段有响应，而且可以精确鉴别被测物在不同频点的响应特性。
专利类型：	发明专利
申请人：	天津大学
发明人：	常超;傅海鹏;张新;马建国;马凯学
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T19:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T12:00:00+0805
申请号：	CN201911318705.7
公开号：	CN111141702A
代理机构：	天津市三利专利商标代理有限公司
代理人：	韩新城
分类号：	G01N21/3586;G01N21/01;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/3586;G01N21/01
申请人地址：	300072 天津市南开区卫津路92号
主权项：	1.基于探测梳原理的高频率分辨率阵列化太赫兹成像系统，其特征在于，包括太赫兹探测器阵列，该太赫兹探测器阵列是将工作在不同中心频率f1、…、fN、能提高太赫兹信号选通特性的太赫兹选频结构分别与太赫兹探测器结合，形成能实现工作在不同中心频率的探测器，然后布局在同一衬底空间上形成；其中，单一探测器实现对单个太赫兹频率点或绝对带宽小于0.1THz的窄频率范围的探测。 2.根据权利要求1所述基于探测梳原理的高频率分辨率阵列化太赫兹成像系统，其特征在于，该太赫兹探测器阵列是工作在不同中心频率的探测器在同一平面排列成的一维线阵或二维面阵，且太赫兹探测器阵列中的不同探测器可分别对不同频率的太赫兹信号有响应，对于某一太赫兹频率阵列中仅有一个探测器的响应度最大。 3.根据权利要求1所述基于探测梳原理的高频率分辨率阵列化太赫兹成像系统，其特征在于，采用能提高太赫兹信号选通特性的滤波天线或多频率选择面叠加形成频率选择面来作为太赫兹选频结构。 4.根据权利要求3所述基于探测梳原理的高频率分辨率阵列化太赫兹成像系统，其特征在于，采用将透射型和反射型频率选择面叠加的方式实现极窄带宽的频率选择面。 5.根据权利要求3所述基于探测梳原理的高频率分辨率阵列化太赫兹成像系统，其特征在于，选用基于等离子体波探测原理实现的NMOS晶体管对太赫兹信号检测，频率选择面放置于NMOS晶体管正上方，即CMOS工艺的顶层金属层。 6.根据权利要求1-5任一项所述基于探测梳原理的高频率分辨率阵列化太赫兹成像系统，其特征在于，设置多路选通电路，分别读取探测器的信号，实现对太赫兹探测器阵列中不同探测器输出信号的读取，以便对不同频点的太赫兹信号进行读出处理。 7.根据权利要求6所述基于探测梳原理的高频率分辨率阵列化太赫兹成像系统，其特征在于，设置读出电路，该读出电路采用先斩波升频，再放大，最后斩波降频的方式，以对探测器的输出信号进行放大，同时减小闪烁噪声，提高该信号的信噪比，避免读出电路中放大器的1/f噪声恶化信号比。
所属类别：	发明专利