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原文传递一种高能稀疏的CT探测器、CT检测系统及检测方法

专利名称：	一种高能稀疏的CT探测器、CT检测系统及检测方法
摘要：	本发明公开了一种高能稀疏的CT探测器、CT检测系统及检测方法，属于CT检测技术领域，解决了现有技术中CT探测装置成本高、不利于设备的推广应用，降低成本不能保证成像精度等问题。本发明CT探测器，包括高能探测器和低能探测器，所述高能探测器和低能探测器采用背靠背式排列，每个高能探测器上方均设置有一个低能探测器；所述高能探测器和低能探测器均设置有多排，低能探测器排数大于高能探测器排数，至少部分高能探测器集中分布。本发明CT探测器部分高能探测器集中排布，降低成本的同时成像精度较高。
专利类型：	发明专利
申请人：	北京航星机器制造有限公司
发明人：	徐圆飞;李保磊;莫阳;孙兴宏;赵雷
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T20:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T15:00:00+0805
申请号：	CN201911330056.2
公开号：	CN111157555A
代理机构：	北京天达知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	程虹
分类号：	G01N23/046;G01T1/20;G01T1/29;G;G01;G01N;G01T;G01N23;G01T1;G01N23/046;G01T1/20;G01T1/29
申请人地址：	100013 北京市东城区和平里东街11号
主权项：	1.一种高能稀疏的CT探测器，其特征在于，包括高能探测器和低能探测器，所述高能探测器和低能探测器采用背靠背式排列，每个高能探测器上方均设置有一个低能探测器；所述高能探测器和低能探测器均设置有多排，低能探测器排数大于高能探测器排数，至少部分高能探测器集中分布；所述高能探测器和低能探测器之间设置有铜片，所述铜片用于过滤经过了低能探测器以后的射线。 2.根据权利要求1所述的高能稀疏的CT探测器，其特征在于，集中分布的多排高能探测器设置在多排低能探测器的中间位置。 3.根据权利要求2所述的高能稀疏的CT探测器，其特征在于，少数高能探测器设置在多排低能探测器的两侧。 4.根据权利要求1所述的高能稀疏的CT探测器，其特征在于，集中分布的多排高能探测器设置在多排低能探测器的一侧。 5.根据权利要求4所述的高能稀疏的CT探测器，其特征在于，少数高能探测器设置在多排低能探测器的另一侧。 6.根据权利要求1所述的高能稀疏的CT探测器，其特征在于，铜片的厚度0.3-1mm之间。 7.根据权利要求1所述的高能稀疏的CT探测器，其特征在于，所述高能探测器包括闪烁体和二极管；所述低能探测器包括闪烁体和二极管。 8.一种CT检测系统，其特征在于，包括CT探测装置、传送带、数据处理计算机、传送带电机、滑环电机和运动控制计算机；所述CT探测装置包括射线源、旋转盘和权利要求1-7所述的CT探测器。 9.根据权利要求8所述的CT检测系统，其特征在于，射线源和CT探测器设置于旋转盘上，CT探测器与数据处理计算机连接，传送带电机和滑环电机均与运动控制计算机连接；运动控制计算机控制传送带电机带动传送带匀速运动，运动控制计算机控制滑环电机匀速转动。 10.一种CT检测方法，其特征在于，采用权利要求8或9所述的CT检测系统，包括以下步骤：被检测物体放置在传动带上，传送带带动被检测物体进入检测通道，旋转盘围绕传送带匀速转动；射线源发射射线，CT探测装置接收来自于射线源的射线光子信号，由数据处理计算机完成CT投影数据的采集、存储和所有的数据处理工作；当高能探测器全部集中排布时，双能数据重建断层用来做识别，而相对较为完备的数据重建断层用来做显示；当高能探测器部分集中排布时，高能探测器未集中分布的部分根据高低能投影值的差值做曲线拟合，根据拟合的曲线求取无高能探测器部分的高能数据，再进行双能投影分解，利用进行了投影分解的数据进行双能图像重建，得到物体的密度和原子序数信息。
所属类别：	发明专利