专利名称: |
一种基于半导体性质评价镀锡板表面钝化膜特性的方法 |
摘要: |
本发明属于镀锡钢板表面质量的生产控制技术领域,公开了一种基于半导体性质评价镀锡板表面钝化膜特性的方法,通过测试不同镀锡板表面钝化膜的Mott‑Schottky曲线来确定其半导体类型,再根据Mott‑Schottky方程算出载流子密度和受体/供体,进而评价有利于镀锡板表面涂饰性的膜成分比例。本发明操作简单、误差小,可表征不同钝化膜结构的镀锡板,根据不同的需求来调控镀锡板钝化膜组成,为镀锡板的实际生产提供了依据。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
东北大学 |
发明人: |
李建中;李旭东;兰剑;王鹏;李秀军;唐超;徐清亮 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
1900-01-20T00:00:00+0805 |
发布日期: |
1900-01-20T12:00:00+0805 |
申请号: |
CN201911359955.5 |
公开号: |
CN111141797A |
代理机构: |
大连理工大学专利中心 |
代理人: |
陈玲玉 |
分类号: |
G01N27/26;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/26 |
申请人地址: |
110819 辽宁省沈阳市和平区文化路三巷11号 |
主权项: |
1.一种基于半导体性质评价镀锡板表面钝化膜特性的方法,其特征在于,镀锡板表面膜的综合评价方法,包括步骤如下: a)配制电解液A,其中硼酸钠0.02~0.06mol·L-1、硼酸0.1~0.3mol·L-1、柠檬酸钠0.03~0.05mol·L-1、柠檬酸0.05~0.2mol·L-1、硫脲0.05~0.15g·L-1,控制电解液的pH值8~9;该电解液A为镀锡板表面膜综合评价的Mott-Schottky曲线测试溶液; 将不同的镀锡板剪成相同大小的试样待用;使用电化学工作站,采用三电极体系,以饱和甘汞电极为参比电极,镀锡板试样为工作电极,石墨为对电极;试验参数为:电压-1.0~1.0V,振幅5~10mV,频率1~5kHz;测定Mott-Schottky方程曲线; b)数据处理 根据测得的数据和Mott-Schottky方程,见公式(1),算出电荷载流子密度N和Na/Nd; 其中C为空间电荷层的电容,F·cm-2;e为电子电荷,1.602×10-19C;N为电荷载流子密度,cm-3;ε为铬钝化膜层的相对介电常数;ε°为真空介电常数,ε°=8.854×10-12F·m-1;E为电极施加电位;Efb为平带电位;k为玻尔兹曼常数;T为温度,K;Na:p型载流子密度;Nd:n型载流子密度; c)当Na/Nd<1时,钝化膜偏向n-型半导体性质,其铬含量较低,钝化膜中铬主要以Cr(OH)3和CrOOH形式存在,锡主要以SnO2和SnO形式存在,镀锡板表面涂饰性中等; 当1≤Na/Nd<4时,钝化膜偏向p-型半导体性质,其铬含量较高,钝化膜中铬主要以Cr2O3形式存在,锡主要以SnO2和SnO形式存在,镀锡板表面涂饰性优良; 当Na/Nd≥4时,钝化膜呈现显著p型半导体性质,铬含量极少,且主要以Cr(OH)3形式存在,锡主要以SnO形式存在,镀锡板表面涂饰性较差。 2.根据权利要求1所述的一种基于半导体性质评价镀锡板表面钝化膜特性的方法,其特征在于,镀锡板表面膜SnO2/Cr2O3比的评价方法,包括步骤如下: a)准备1mol·L-1的NaOH和质量浓度30%的H2O2,将NaOH溶液与H2O2溶液按体积比1:5~7混合;将镀锡板置于常温的NaOH-H2O2混合溶液浸泡10~20min;该溶液促进SnO2形成,减少钝化膜中Cr(OH)3/Cr(OH)3·H2O、CrOOH的组成; b)配置电解液B,其中磷酸为pH调节剂、磷酸钠1~5g·L-1、醋酸钠1~3g·L-1,其pH值控制在6-8;该电解液B为镀锡板表面膜的SnO2/Cr2O3比Mott-Schottky曲线测试溶液; c)使用电化学工作站,采用三电极体系,以饱和甘汞电极为参比电极,镀锡板试样为工作电极,石墨为对电极;试验参数为:电压-1.0~1.0V,振幅5~10mV,频率1~5kHz;测定Mott-Schottky方程曲线; d)数据处理 根据测得的数据和Mott-Schottky方程见公式(1),算出电荷载流子密度和Na/Nd; e)当Na/Nd<3时,钝化膜偏向n-型半导体性质,与Cr2O3相比,钝化膜中以SnO2形式占主要比例,镀锡板表面涂饰性为良级; 当Na/Nd≥3时,钝化膜偏向p-型半导体性质,与SnO2相比,钝化膜中以Cr2O3形式占主要比例,镀锡板表面涂饰性为优级。 |
所属类别: |
发明专利 |