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原文传递一种碲化锌镉晶体的检测方法

专利名称：	一种碲化锌镉晶体的检测方法
摘要：	本申请公开一种碲化锌镉晶体的检测方法，其测量出碲化锌镉晶体导通电流随偏执电压增加的曲线，将所述曲线的拐点对应的偏执电压Ve运用公式μτ＝d2/Ve，其中，d为碲化锌镉晶体的厚度，μτ为电子迁移率寿命积。简化了测量碲化锌镉晶体的电子迁移率寿命积的测量方法。
专利类型：	发明专利
申请人：	成都闰德芯传感器技术有限公司
发明人：	殷实;尹朝晖;尹朝蓉
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T20:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T15:00:00+0805
申请号：	CN202010065066.4
公开号：	CN111157547A
代理机构：	重庆中之信知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	谢毅
分类号：	G01N23/00;G01T7/00;G;G01;G01N;G01T;G01N23;G01T7;G01N23/00;G01T7/00
申请人地址：	610041 四川省成都市高新区荣华南路366号4栋1单元7层712号
主权项：	1.一种碲化锌镉晶体的检测方法，其特征在于，包括：运用X-光照射碲化锌镉晶体，测量碲化锌镉晶体的偏执电压以及偏执电压对应的导通电流，利用作图法将偏执电压和导通电流制作成导通电流随偏执电压变化的曲线，并得到曲线的拐点，所述曲线的拐点对应的偏执电压为Ve；运用公式μτ＝d2/Ve，得到电子迁移率寿命积μτ，其中，d为碲化锌镉晶体的厚度。 2.如权利要求1所述的一种碲化锌镉晶体的检测方法，其特征在于，所述碲化锌镉晶体处理方法为： S1.将碲化锌镉晶体经过切割，打磨，制作成待测量的晶体块，晶体测试厚度d为0.5mm-5mm,晶体两端的测试电极面积为5mmx5mm； S2.将晶体两端的测试电极用导线连接到电极； S3.电极的测量回路中将保护电阻R、电流计A和可调高压电源HV进行串联。 3.如权利要求1所述的一种碲化锌镉晶体的检测方法，其特征在于，测量的具体方法为： S4.使用X-光机照射所述测量电极负极对应的碲化锌镉晶体面； S5.均匀的增大调整高压电源HV的偏执电压u，记录相应偏执电压下电流计A的导通电流i。 4.如权利要求3所述的一种碲化锌镉晶体的检测方法，其特征在于，所述X-光机为医用钼靶机，医用钼靶机输出的X-光是连续谱。 5.如权利要求4所述的一种碲化锌镉晶体的检测方法，其特征在于，所述X-光机输出的最大X-光能量为40kV；测量关闭X-光机时的矩形晶体块中的导通暗电流I1。 6.如权利要求1-5任一所述的一种碲化锌镉晶体的检测方法，其特征在于，所述作图法的具体步骤为： (1).选用标纸有直角坐标纸，选择预设偏执电压精确度的整数倍作为坐标纸得标度； (2).标点与连线：偏执电压以及偏执电压对应的导通电流对应的点用符号o在坐标纸上明确标出；连线(拟合图线)一定要用直尺或曲线尺等作图工具，把数据点连成光滑的直线； (3).所述点的两端的直线斜率变化大于30％标记为拐点。
所属类别：	发明专利