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原文传递一种用于电子产品生产用设备检修系统及其检修方法

专利名称：	一种用于电子产品生产用设备检修系统及其检修方法
摘要：	本发明公开了一种用于电子产品生产用设备检修系统及其检修方法，应用于数码相机电路板的检测领域，一种用于电子产品生产用设备检修系统包括：检测机架，设在检测机架上的图像检测系统，设在检测机架上的光束扫描系统，计算机检测终端，数据库存储服务器，以及设在检测机架上的功能测试系统；所述图像检测系统和光束扫描系统与计算机检测终端系统软件进行网络关联，并将检测图像经过计算机检测终系统软件进行分析转换；所述数据库存储服务器中设有存储相同类型和不同电子设备类型的印制板和电原理图为对比图。本发明能够实现机器视觉和电学性能同步测试，避免检测出现图像检测难以分析的失误。
专利类型：	发明专利
申请人：	南京精益通信息技术有限公司
发明人：	吕恒
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T13:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T19:00:00+0805
申请号：	CN202010176980.6
公开号：	CN111175319A
代理机构：	南京泰普专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	刘兴华
分类号：	G01N21/956;G01R31/28;G;G01;G01N;G01R;G01N21;G01R31;G01N21/956;G01R31/28
申请人地址：	211135 江苏省南京市麒麟高新技术产业开发区天骄路100号华清园7栋2楼
主权项：	1.一种用于电子产品生产用设备检修系统，应用于数码相机电路板的检测领域，其特征在于，包括：检测机架，设在检测机架上的图像检测系统，设在检测机架上的光束扫描系统，计算机检测终端，数据库存储服务器，以及设在检测机架上的功能测试系统；所述图像检测系统和光束扫描系统与计算机检测终端系统软件进行网络关联，并将检测图像经过计算机检测终系统软件进行分析转换；所述数据库存储服务器中设有存储相同类型和不同电子设备类型的印制板和电原理图为对比图。 2.根据权利要求1所述的一种用于电子产品生产用设备检修系统，其特征在于，所述检测机架包括：固定连接在底部的基座，固定安装在基座上的多个传送工位，设在基座上的CCD图像相机，设置在基座上的LED照明组件。 3.根据权利要求2所述的一种用于电子产品生产用设备检修系统，其特征在于，所述基座上还设置有二维传动机构，以及固定设置在传动机构上的上下料机械手。 4.根据权利要求1所述的一种用于电子产品生产用设备检修系统，其特征在于，所述功能测试系统包括固定设置在基座上的旋转工作台，固定安装在旋转工作台上方的气动测试架，以及传动设置在气动测试架上的测试夹组件。 5.根据权利要求4所述的一种用于电子产品生产用设备检修系统，其特征在于，所述旋转工作台包括：固定安装在基座上的旋转电机，安装在旋转电机输出端的转盘，以及螺接固定在转盘上的限位载具；所述气动测试架为两组，所述气动测试架包括：固定安装在气动测试架底部的行程气缸，穿插在气动测试架上的导杆，以及套接在导杆上的上夹板；所述上夹板固定连接在行程气缸的动力输出端；所述上夹板的一侧安装有镀金探针。 6.基于权利要求1所述的一种用于电子产品生产用设备检修系统的检修方法，其特征在于，包括如下步骤： S1、开启计算机检测终端中的系统软件，同时将要检测的电路板放置在传送工位上； S2、在系统软件中输入待检测产品的产品型号及可便在数据库中索引的关键字； S3、选择待检测电路板参考的印制板和电原理图对比图； S4、开启图像检测系统和光束扫描系统，选择目标件进行图像分析和光束扫射调整； S5、图像分析是以参考印制板和电原理图为标准，对图像中的目标件为中心进行标识，进而对目标件损坏处进行定位，以及判断电子设备是否存在故障； S6、光束扫描系统根据计算机设定的图像深度指令设定LED照明组件的打光参数； S7、经过图像分析后，合格品经上下料机械手吸取至旋转工作台上进行功能性测试，测试目标件在加电情况下的动态参数，判断其电学性能是否合格。 7.根据权利要求6所述的一种用于电子产品生产用设备检修系统的检修方法，其特征在于，所述LED照明组件包括：固定设置在机体内部的多个LED灯组，以及安装在检测机架上的反射镜组件；所述反射镜组件包括：固定安装在检测机架上的弧形反射镜，固定安装在检测机架上的多个微调座，螺接在微调座上的调整板，以及穿插在微调座和调整板之间的微调螺杆；所述调整板上设有调整反射镜；所述微调螺杆传动连接设置微调座中的驱动装置，所述LED灯组电连控制芯片；所述驱动装置和控制芯片电连计算机控制模块。 8.根据权利要求6所述的一种用于电子产品生产用设备检修系统的检修方法，其特征在于，所述S3中选择对比图的过程为历遍参考图像的所有位置，并计算参考图在该位置下的相似度量值，具体步骤为： a) 参考图的左上角和目标件的左上角重合； b) 取图像中与参考图同样大小的一块区域与模板进行比较，得到第一相似系数值，依次将模板平移到下一个像素点，进行同样的第二相似系数值取值，接着进行N次数后，完成第N次相似系数值取值后历遍图像所有区域的对比； c) 当图像的所有位置都遍历完，第一相似系数值、第二相似系数值、以及第N次相似系数值相乘大于0.97-0.99则认定该对比图是与之匹配的参考对比图。
所属类别：	发明专利