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激光诱导击穿光谱真假信号分辨数据分析方法
| 专利名称： | 激光诱导击穿光谱真假信号分辨数据分析方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种激光诱导击穿光谱真假信号分辨数据分析方法，首先分别对本底信号和待测样品信号进行若干次重复测量，得到本底光谱数据和待测样品光谱数据，然后利用t检验法比较待测样品的测定结果的平均值与不存在标准试样的本底测量平均值之间是否存在显著性差异，如果存在显著性差异，则确定测得的信号值为样品信号，反之则为非有效信号。本发明通过将数理统计中的显著性检验与激光诱导击穿光谱技术相结合，显著提高测量数据的可信度，并且算法简便，无需复杂的程序，提高了数据处理效率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 中国原子能科学研究院 |
| 发明人： | 王祥丽;高智星;许小明;柏磊;程毅梅 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 1900-01-20T09:00:00+0805 |
| 发布日期： | 1900-01-20T22:00:00+0805 |
| 申请号： | CN202010022156.5 |
| 公开号： | CN111189817A |
| 代理机构： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 田明;任晓航 |
| 分类号： | G01N21/71;G06F17/17;G;G01;G06;G01N;G06F;G01N21;G06F17;G01N21/71;G06F17/17 |
| 申请人地址： | 102413 北京市房山区新镇三强路1号院 |
| 主权项： | 1.一种激光诱导击穿光谱真假信号分辨数据分析方法，其特征在于：首先分别对本底信号和待测样品信号进行若干次重复测量，得到本底光谱数据和待测样品光谱数据，然后利用t检验法比较待测样品的测定结果的平均值与不存在标准试样的本底测量平均值之间是否存在显著性差异，如果存在显著性差异，则确定测得的信号值为样品信号，反之则为非有效信号。 2.如权利要求1所述的激光诱导击穿光谱真假信号分辨数据分析方法，其特征在于：所述的本底信号和待测样品信号的测量次数不小于20次。 3.如权利要求2所述的激光诱导击穿光谱真假信号分辨数据分析方法，其特征在于：确定是否存在所述显著性差异的方法为，将测量得到的待测样品信号与本底信号进行显著性检验计算，得到t检验值，通过t检验显著性水平对照表查找比较计算值是否大于对应置信区间的t值。 4.如权利要求2所述的激光诱导击穿光谱真假信号分辨数据分析方法，其特征在于：确定是否存在所述显著性差异的方法为，在假设存在显著性差异的情况下，根据t检验显著性水平对照表中对应置信区间的t值，计算得出可判断为真信号的待测样品测定结果平均值的最低阈值，待测样品的测定结果平均值大于最低阈值时为样品信号。 5.如权利要求3或4所述的激光诱导击穿光谱真假信号分辨数据分析方法，其特征在于：查表时所述的对应置信区间为90％。 6.如权利要求1或2所述的激光诱导击穿光谱真假信号分辨数据分析方法，其特征在于：t检验法所利用的激光诱导击穿光谱信号数据，是横纵坐标分别为波长与波峰强度的若干个点的数据组，将对应波长下得到的激光诱导击穿光谱信号峰值进行显著性检验，且认为本底测量平均值为显著性检验中的已知样本平均值，待测样品的测量平均值为实验样本平均值。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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