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原文传递基于扫描电镜快速确定有机质孔隙的定量表征方法及应用

专利名称：	基于扫描电镜快速确定有机质孔隙的定量表征方法及应用
摘要：	本发明属于有机质孔隙判识技术领域，公开了一种基于扫描电镜快速确定有机质孔隙的定量表征方法及应用，利用扫描电镜确定有机质分布位置；利用能谱仪及有机质形态确定显微组分类型；利用有机质显微组分确定有机孔；确定有机质分布位置、确定显微组分类型、确定有机孔发育情况。本发明采用扫描电镜鉴定有机质显微组分可有效解决目前存在使用扫描电镜观察有机质孔隙时存在观察视域小，发现有机孔难度大且不发育、观察时间长，降低了实验以及科研效率。本发明的扫描电镜具有放大倍数高，图像立体感强，且制样方法简单；将有机质孔隙和显微组分建立关系，可直接观察到各显微组分自身的富存方式，形态特征及与矿物的接触关系，识别有机质孔隙。
专利类型：	发明专利
申请人：	成都理工大学
发明人：	陈文玲;邓虎成;夏宇;周文;易婷;张烨毓
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T17:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
申请号：	CN202010054533.3
公开号：	CN111208162A
代理机构：	北京众合诚成知识产权代理有限公司
代理人：	邹仕娟
分类号：	G01N23/2251;G01N23/2202;G01N15/08;G;G01;G01N;G01N23;G01N15;G01N23/2251;G01N23/2202;G01N15/08
申请人地址：	610059 四川省成都市成华区二仙桥东三路1号
主权项：	1.一种基于扫描电镜快速确定有机质孔隙的定量表征方法，其特征在于，所述基于扫描电镜快速确定有机质孔隙的定量表征方法包括以下步骤：第一步，利用扫描电镜确定有机质分布位置；第二步，利用能谱仪及有机质形态确定显微组分类型；第三步，利用有机质显微组分确定有机孔；第四步，确定有机质分布位置、确定显微组分类型、确定有机孔发育情况。 2.如权利要求1所述的基于扫描电镜快速确定有机质孔隙的定量表征方法，其特征在于，所述基于扫描电镜快速确定有机质孔隙的定量表征方法的样品选取采用自然断面制样方法，制取垂直层里的新鲜断面。 3.如权利要求1所述的基于扫描电镜快速确定有机质孔隙的定量表征方法，其特征在于，所述基于扫描电镜快速确定有机质孔隙的定量表征方法的样品制备：样品固定好后，对样品进度镀金处理，工作电流20mA，喷镀时间150s。 4.如权利要求1所述的基于扫描电镜快速确定有机质孔隙的定量表征方法，其特征在于，所述基于扫描电镜快速确定有机质孔隙的定量表征方法扫描电镜下检测有机显微组分时，首先要识别有机质；然后根据有机质形态特征，赋存状态；再结合地质年代确定显微组分。 5.如权利要求1所述的基于扫描电镜快速确定有机质孔隙的定量表征方法，其特征在于，所述第一步利用扫描电镜确定有机质分布位置具体包括：制好的页岩样品放入仪器中，在扫描电镜低倍数下确定所需要的矩形观察区域，观察是否存在有机质，若不存在，挪动视域直到发现有机质；扫描电镜条件下，有机质偏暗，与周围矿物有明显颜色区别。 6.如权利要求1所述的基于扫描电镜快速确定有机质孔隙的定量表征方法，其特征在于，所述第二步利用能谱仪及有机质形态特征确定显微组分类型包括；在利用扫描电镜下确定有机显微组分，根据有机质形态特征，赋存状态，再结合能谱仪确定显微组分。 7.如权利要求6所述的基于扫描电镜快速确定有机质孔隙的定量表征方法，其特征在于，所述电镜下有机质识别包括： ①腐泥组：成像图片亮度暗，有机质形态呈条带状，腐泥组化学成分为C,SI,O； ②镜质组：成像图亮度较暗，有机质表面均匀、平坦、光滑，呈宽窄不等的条带状或块状等特点，见贝壳状断口，C含量达80％～90％； ③壳质组：树脂体呈大小不一的圆形、椭圆形及不规则形态；角质体，常呈弯曲状或条带状分布在页岩中；孢子体可分为大孢子和小孢子，扫描电镜下多是小孢子，呈扁球状，细短的线状、蠕虫状； ④惰质组：成像图较亮，易见植物组织结构，C含量80％～90％。 8.如权利要求1所述的基于扫描电镜快速确定有机质孔隙的定量表征方法，其特征在于，所述第三步利用有机质显微组分确定有机孔包括：经发现腐泥组是最有利于有机孔发育的显微组分，镜质组次之，壳质组和惰质组不利于有机质孔隙发育；通过在低倍数视域下判识腐泥组和镜质组实现对有机质孔隙的快速定位。 9.一种如权利要求1～8任意一项所述基于扫描电镜快速确定有机质孔隙的定量表征方法在有机质孔隙判识中的应用。 10.一种如权利要求1～8任意一项所述基于扫描电镜快速确定有机质孔隙的定量表征方法在页岩气勘探开发中的应用。
所属类别：	发明专利