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原文传递一种荧光探测方法、系统及装置

专利名称：	一种荧光探测方法、系统及装置
摘要：	本发明公开了一种荧光探测方法，包括：通过光锥对荧光进行收集，第一滤光片对所述初始荧光进行滤光处理，以获取第一目标光束并产生第一滤光反射光束；通过第一探测器对所述第一目标光束进行检测处理；通过第二滤光片对所述第一滤光反射光束进行滤光处理，以获取第二目标光束。本发明还公开了一种荧光探测系统及装置。本发明公开了一种荧光探测方法系统及装置通过设置多个信号通道，以收集空间荧光并对其进行多信号检测。
专利类型：	发明专利
申请人：	光越科技(深圳)有限公司
发明人：	龙跃金;韦琪;张峰;陆众;苏习明;陆海龙
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
申请号：	CN202010123942.4
公开号：	CN111208108A
代理机构：	广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人：	洪铭福
分类号：	G01N21/64;G01N21/01;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64;G01N21/01
申请人地址：	518000 广东省深圳市龙华区观澜街道桂香社区观澜桂花路201号六韬城工业园(综合楼)202及(综合楼)301
主权项：	1.一种荧光探测方法，其特征在于，包括：通过光锥对初始荧光进行收集，第一滤光片对所述初始荧光进行滤光处理，以获取第一目标光束并产生第一滤光反射光束；通过第一探测器对所述第一目标光束进行检测处理；通过第二滤光片对所述第一滤光反射光束进行滤光处理，以获取第二目标光束。 2.根据权利要求1所述的荧光探测方法，其特征在于，还包括：第二探测器，所述第二探测器用于对所述第二目标光束进行检测处理；所述通过第二滤光片对所述第一滤光反射光束进行滤光处理，还包括：对所述第一滤光反射光束进行滤光处理后所剩余的光束进行反射以生成第二滤光反射光束。 3.据权利要求1所述的荧光探测方法，其特征在于，通过准直器对所述初始荧光进行准直处理；所述准直器包括：光纤、微细管、准直透镜、玻管；所述玻管中设有中空通道，所述微细管与所述中空通道的一端套接；所述光纤与所述微细管套接，所述准直透镜与所述中空通道的另一端套接。 4.根据权利要求3所述的荧光探测方法，其特征在于，还包括：若干波分复用器；第一波分复用器包括第一输入端、第一输出端、第一反射输入端；所述第一输入端用于接收所述初始荧光，所述第一输出端用于输出所述初始荧光并接收所述第一滤光反射光束；第二波分复用器包括第二输入端、第二输出端、第二反射输入端；所述第一反射输入端与所述第二输入端连接；所述第二输入端用于接收所述第一滤光反射光束，所述第二输出端用于输出所述第一滤光反射光束并接收所述第二滤光反射光束。 5.一种装置，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4中任意一项所述的荧光探测方法。 6.一种荧光探测系统，包括：光锥、第一滤光片、第一探测器、第二滤光片；所述光锥，用于对初始荧光进行收集；所述第一滤光片，用于对所述初始荧光进行滤光处理，以获取第一目标光束并产生第一滤光反射光束；所述第一探测器，用于对所述第一目标光束进行检测处理；所述第二滤光片，用于对所述第一滤光反射光束进行滤光处理，以获取第二目标光束。 7.根据权利要求6所述的荧光探测系统，其特征在于，还包括：第二探测器、第二滤光片；所述第二探测器用于对所述第二目标光束进行检测处理；所述对所述第一滤光反射光束进行滤光处理，还包括：对所述第一滤光反射光束进行滤光处理后所剩余的光束进行反射以生成第二滤光反射光束。 8.据权利要求7所述的荧光探测系统，其特征在于，通过准直器对所述初始荧光进行准直处理；所述准直器包括：光纤、微细管、准直透镜、玻管；所述玻管中设有中空通道，所述微细管与所述中空通道的一端套接；所述光纤与所述微细管套接，所述准直透镜与所述中空通道的另一端套接。 9.根据权利要求8所述的荧光探测系统，其特征在于，还包括：若干波分复用器；第一波分复用器包括第一输入端、第一输出端、第一反射输入端；所述第一输入端用于接收所述初始荧光，所述第一输出端用于输出所述初始荧光并接收所述第一滤光反射光束；第二波分复用器包括第二输入端、第二输出端、第二反射输入端；所述第一反射输入端与所述第二输入端连接；所述第二输入端用于接收所述第一滤光反射光束，所述第二输出端用于输出所述第一滤光反射光束并接收所述第二滤光反射光束。
所属类别：	发明专利