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原文传递一种利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器和芯片

专利名称：	一种利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器和芯片
摘要：	本发明公开了一种利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器和芯片，属于表面等离子共振(SPR)技术、高分子材料、SPR活性层薄膜制备的交叉技术领域，该传感器包括依次设置的玻璃棱镜和SPR传感器芯片，该SPR传感器芯片由上至下依次由铬膜、金属膜、活性层膜组成；本发明所述的利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器对传统金属膜的特点进行改进，镀金属膜前在棱镜全反射面增覆铬膜，同时在金属膜表面增覆壳聚糖‑碳点膜，利用壳聚糖碳点对2,3‑二氨基吩嗪的强吸附作用，实现重金属铜离子的高灵敏特异性检测。
专利类型：	发明专利
申请人：	广州市加和检测技术服务有限公司
发明人：	吴胜旭;吴伟娜;王文华;严立逊;黎珊珊;夏晓冰
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T11:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
申请号：	CN202010164494.2
公开号：	CN111208090A
代理机构：	北京东方盛凡知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	张雪
分类号：	G01N21/552;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/552
申请人地址：	515100 广东省广州市天河区体育东路140-148号2808A06
主权项：	1.一种利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片，其特征在于，金属膜表面增覆分子敏感膜，所述金属膜的另一表面增覆铬膜，所述分子敏感膜为活性层膜。 2.根据权利要求1所述的利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片，其特征在于，所述金属膜为金膜或银膜。 3.根据权利要求2所述的利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片，其特征在于，所述银膜的厚度为25-45nm；所述金膜的厚度为10-20nm。 4.根据权利要求1所述的利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片，其特征在于，所述铬膜的厚度为3-5nm。 5.根据权利要求1所述的利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片，其特征在于，所述活性层膜为壳聚糖-碳点膜，所述壳聚糖-碳点膜是在配制好的壳聚糖溶液中缓慢撒入碳点，超声搅拌5-20min，通过旋涂法涂膜；其中，所述壳聚糖溶液与碳点的体积质量比为30mL：0.5-10g；所述壳聚糖-碳点膜的厚度为30-50nm。 6.根据权利要求5所述的利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片，其特征在于，所述壳聚糖溶液是将分子量30万以上、脱乙酰度90％以上的壳聚糖溶解于盐酸溶液中，至其完全溶解，加入京尼平溶液，搅拌至壳聚糖溶液完全交联。 7.根据权利要求6所述的利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片，其特征在于，所述壳聚糖与京尼平的质量比为100:3-15；所述盐酸溶液的浓度为0.2-2mol/L。 8.根据权利要求5所述的利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片，其特征在于，所述碳点是将分子量5-40万、脱乙酰度90-95％的壳聚糖、二氨基乙烷和去离子水加入聚四氟乙烯反应釜中，在180-200℃下反应5-20h，冷却至室温，用去离子水透析15-24h，冷冻干燥至碳点粉末，置于4℃保存备用。 9.根据权利要求8所述的利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器芯片，其特征在于，所述壳聚糖、二氨基乙烷和去离子水的质量比为1-1.5:1:40-60。 10.一种利用壳聚糖碳点检测重金属离子的SPR传感器，其特征在于，包括依次设置的玻璃棱镜以及权利要求1-9中任一项所述的SPR传感器芯片，所述玻璃棱镜设置于所述铬膜表面。
所属类别：	发明专利