详情

原文传递一种测量吸波材料反射率的方法

专利名称：	一种测量吸波材料反射率的方法
摘要：	本发明公开了一种测量吸波材料反射率的方法，该方法包括在不同反射测试条件下，分别对待测吸波材料和参照材料进行反射测试，获得第一信号总量的差值和第二信号总量的差值；基于第一信号总量的差值和第二信号总量的差值，计算得到所述待测材料的反射率。本发明中采用的测量方法可有效地解决以上不足，该方法在不需要分离吸波材料或参考金属板反射信号的同时，通过改变测量距离，选择合理的测量方法，来计算获得平板吸波材料反射率。通过使用该方法，不仅可以减小信号时频域转换过程中的截断误差，还可以有效降低收发天线直接耦合信号与空间杂散信号对反射信号的影响，进而提高反射率测量准确度，减小测量误差。
专利类型：	发明专利
申请人：	北京无线电计量测试研究所
发明人：	康宁;王淞宇;穆晨晨;袁岩兴;刘阳;杨金涛;张磊;唐元贵
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T18:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T03:00:00+0805
申请号：	CN201911310125.3
公开号：	CN110954567A
代理机构：	北京正理专利代理有限公司
代理人：	付生辉
分类号：	G01N23/20;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/20
申请人地址：	100854 北京市海淀区142信箱408分箱
主权项：	1.一种测量吸波材料反射率的方法，其特征在于，该方法包括步骤如下：在不同反射测试条件下，分别对待测吸波材料和参照材料进行反射测试，获得第一信号总量的差值和第二信号总量的差值；基于第一信号总量的差值和第二信号总量的差值，计算得到所述待测材料的反射率。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，该方法进一步包括：在同一反射测试条件下，对所述待测吸波材料和所述参照材料分别进行第一次反射测试；改变测试条件，在同一反射测试条件下，对所述待测吸波材料和所述参照材料分别进行第二次反射测试；将所述待测吸波材料在第一次反射测试中由信号接收设备接收到的信号总量与上述待测吸波材料在第二次反射测试中由所述信号接收设备接收到的信号总量进行运算，得到在不同测试条件的反射测试中由所述信号接收设备接收到的信号总量的差值，作为第一信号总量的差值；将所述参照材料在第一次反射测试中由信号接收设备接收到的信号总量与所述参照材料在第二次反射测试中由所述信号接收设备接收到的信号总量进行运算，得到在不同条件的反射测试中由所述信号接收设备接收到的信号总量的差值，作为第二信号总量的差值；基于第一信号总量的差值和第二信号总量的差值，计算得到所述待测吸波材料的反射率。 3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述待测吸波材料为平板吸波材料。 4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述参照材料为金属板。 5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述待测吸波材料与所述参照材料的尺寸相同。 6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述反射测试的测试次数至少为2次。 7.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述反射测试的信号由信号发生器产生，经发射天线辐射，被接收天线接收后送入信号接收设备。 8.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测吸波材料在第一次反射测试中由信号接收设备接收到的信号S1包括所述发送天线直接耦合到所述接收天线的信号Soh1，所述发射天线辐射到所述待测吸波材料后由所述测吸波材料反射到所述接收天线的信号Scl1，和测量空间内其余反射物产生的杂散信号Szs1；所述待测吸波材料在第二次反射测试中由信号接收设备接收到的信号S2包括所述发送天线直接耦合到所述接收天线的信号Soh2，所述发射天线辐射到所述待测吸波材料后由所述待测吸波材料反射到所述接收天线的信号Scl2，和测量空间内其余反射物产生的杂散信号Szs2；所述参照材料在第一次反射测试中由信号接收设备接收到的信号M1包括所述发送天线直接耦合到所述接收天线的信号Moh1，所述发射天线辐射到所述参照材料后由所述参照材料反射到所述接收天线的信号Mjs1，和测量空间内其余反射物产生的杂散信号Mzs1；所述参照材料在第二次反射测试中由信号接收设备接收到的信号M2包括所述发送天线直接耦合到所述接收天线的信号Moh2，所述发射天线辐射到所述参照材料后由所述参照材料反射到所述接收天线的信号Mjs2，和测量空间内其余反射物产生的杂散信号Mzs2。 9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述待测吸波材料的反射率如公式(1)所示，其中，τ表示待测吸波材料的反射率。
所属类别：	发明专利