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原文传递一种吸波材料表征反射率失效评估方法

专利名称：	一种吸波材料表征反射率失效评估方法
摘要：	本发明公开了一种吸波材料表征反射率失效评估方法，其包括：针对隐身武器装备的特点，结合涂敷于该隐身武器装备上的吸波材料表征反射率分布特征，确定该隐身武器装备表征反射率特征点的信息；对所确定的表征反射率特征点进行测量，创建所有特征点的表征反射率基准数据库并保存；当隐身武器装备交付用户、使用一段时间后，根据该隐身武器装备表征反射率特征点的分布特点，结合对涂敷于该隐身武器装备上吸波材料目视检查结果，确定待评估特征点；测量待评估特征点的表征反射率，将测量得到的该特征点的吸波材料表征反射率与对应的基准数据库中的结果比对、评估并确定维护维修优先级。通过该方法，能够直接获取被测目标特征点处吸波材料表征反射率与频率关系曲线，并评估该特征点处吸波材料的表征反射率是否失效，显著降低隐身武器装备的失效评估成本，缩短失效评估周期，提高失效评估效率。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京测威科技有限公司
发明人：	张澎;彭刚;薛昀
专利状态：	有效
申请日期：	2019-06-13T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-16T00:00:00+0800
申请号：	CN201910508650.X
公开号：	CN110133001A
分类号：	G01N22/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N22
申请人地址：	100086 北京市海淀区知春路甲48号盈都大厦C座1单元6A
主权项：	1.一种吸波材料表征反射率失效评估方法，包括： S101、确定表征反射率特征点：针对隐身武器装备的特点，结合涂敷于该隐身武器装备上的吸波材料表征反射率分布特征，确定该隐身武器装备表征反射率特征点的信息； S102、创建特征点基准数据库：对步骤S101确定的表征反射率特征点进行测量，创建所有特征点的表征反射率基准数据库并保存； S103、确定待评估特征点：当隐身武器装备交付用户、使用一段时间后，根据该隐身武器装备表征反射率特征点的分布特点，结合对涂敷于该隐身武器装备上吸波材料目视检查结果，确定待评估特征点； S104、测量待评估特征点的表征反射率； S105、测量结果评估：将步骤S104得到的待评估特征点的吸波材料表征反射率与步骤S102得到对应的基准数据库中的结果比对，评估该特征点表征反射率是否失效，直至完成所有待评估特征点的吸波材料表征反射率与相对应特征点基准数据库结果的比对、评估； S106、确定维护维修优先级。 2.根据权利要求1所述的一种吸波材料表征反射率失效评估方法，在步骤S101中，所确定的该隐身武器装备表征反射率特征点的信息包括特征点的所处部位、数量，并对特征点进行编号。 3.根据权利要求1所述的一种吸波材料表征反射率失效评估方法，在步骤S103中，所确定的该隐身武器装备的待评估特征点的信息包括待评估特征点的所处部位、数量，并对待评估特征点进行编号。 4.根据权利要求1所述的一种吸波材料表征反射率失效评估方法，在步骤S104中，根据表征反射率失效评估任务要求、该隐身武器装备吸波材料特征点分布特点、吸波材料表征反射率测试仪性能指标制订表征反射率失效评估测试方案，方案包括测量次序、测试频段、极化方式、测量结果精度以及操作步骤。 5.根据权利要求1所述的一种吸波材料表征反射率失效评估方法，在步骤S106中，根据待评估特征点的表征反射率与对应特征点的基准数据库偏离值大小进行排序，偏离值大的特征点维护维修优先级高，偏离值小的特征点维护维修优先级低。
所属类别：	发明专利