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原文传递测定镍基合金中钽元素含量的方法

专利名称：	测定镍基合金中钽元素含量的方法
摘要：	本发明公开了一种测定镍基合金中钽元素含量方法，其方法步骤为：（1）配置标Ta元素标准溶液；（2）根据镍基合金中Cr、V等元素的实际含量范围，建立干扰校正模型；（3）将Ta元素标准溶液在电感耦合等离子体发射光谱仪上进行测定，绘制标准曲线；（4）精确称取镍基合金样品，制备样品溶液；（5）测定样品溶液中Ta元素的发射强度，根据标准曲线计算样品溶液中Ta元素的含量，然后经干扰校正公式校正得到镍基合金中Ta元素的实际含量。本方法能准确测定镍基合金中钽元素的实际含量，具有良好的测试精度。
专利类型：	发明专利
申请人：	河钢股份有限公司
发明人：	任玲玲;刘洁;戚振南;谭胜楠;郭圣洁;杨慧贤;杨晓倩
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T18:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T17:00:00+0805
申请号：	CN201911310603.0
公开号：	CN111024682A
代理机构：	石家庄冀科专利商标事务所有限公司
代理人：	李桂芳
分类号：	G01N21/73;G01N1/44;G;G01;G01N;G01N21;G01N1;G01N21/73;G01N1/44
申请人地址：	050023 河北省石家庄市体育南大街385号
主权项：	1.一种测定镍基合金中钽元素含量的方法，其特征在于，其方法步骤为：（1）配置标准溶液：称取高纯镍，加入由盐酸、硝酸及少量氢氟酸配制而成的混合酸进行消解；消解完成后，配制一系列不同浓度的Ta元素标准溶液；建立干扰校正模型：根据镍基合金中Cr、V等元素的实际含量范围，建立Cr、V对Ta的若干干扰校正值，采用加权回归迭代得到Cr、V对Ta的干扰校正方程，其中所述Cr的含量范围为1.0%～30%，V的含量范围为0.1%～5%，Ta的含量范围为0.02%～5%，以镍基合金为基础；建立标准曲线：将步骤（1）配制的Ta元素标准溶液在电感耦合等离子体发射光谱仪上进行测定，以Ta元素含量ω0(Ta)为横坐标，发射强度为纵坐标绘制标准曲线；（4）配置样品溶液：精确称取镍基合金样品，加入由盐酸、硝酸及少量氢氟酸配制而成的混合酸，置于微波消解仪中进行消解；消解完成后，冷却、定容，得到样品溶液；（5）测试与数据处理：采用与步骤（3）相同的测定条件测定样品溶液中Ta元素的发射强度，根据步骤（3）建立的标准曲线中计算得到样品溶液中Ta元素的含量ω0(Ta)，经干扰校正公式（1）计算即可得到镍基合金中Ta元素的实际含量：其中ω(Ta)为镍基合金中Ta元素的实际含量，%；ω0(Ta)为根据步骤（2）建立的标准曲线计算得到的Ta元素含量，%；ω(Ta/Cr)为Cr元素对Ta元素的校正值，%；ω(Ta/V)为V元素对Ta元素的校正值，%；ω(Ta/Cr)和ω(Ta/V)可通过步骤（2）的干扰校正方程计算得到，%。 2.根据权利要求1所述的测定镍基合金中钽元素含量的方法，其特征在于：所述步骤（1）和步骤（4）中的混合酸由体积比1:1～4:1的高纯盐酸、高纯硝酸以及0.5ml～1ml的氢氟酸配制而成。 3.根据权利要求1所述的测定镍基合金中钽元素含量的方法，其特征在于：所述步骤（4）中，微波消解的消解功率为800w～1600w，压力为300～600psi，升温至目标温度170～190℃，然后保温至完全消解。 4.根据权利要求1所述的镍基合金中钽元素含量的测定方法，其特征在于：镍基合金中钽元素的检测范围为0.002%～5%。
所属类别：	发明专利