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原文传递一种染料系偏光膜加工槽液中硼酸含量的测定方法

专利名称：	一种染料系偏光膜加工槽液中硼酸含量的测定方法
摘要：	本发明公开了一种染料系偏光膜加工槽液中硼酸含量的测定方法，所述方法包括步骤：步骤S1.待测样品的预处理，将待测样品进行过滤，去除微小杂质；步骤S2.用电子天平准确称量坩埚及带盖的重量，记为M0；步骤S3.在坩埚中加入预处理后的待测硼酸溶液样品，加盖后用电子天平称重，记为M1；步骤S4.将称重后的样品放入加热设备中进行加热，程序升温至600～1000℃；步骤S5.焙烧结束后，降至室温，取出坩埚，恒重，然后用电子天平对坩埚进行称重，记为M2；步骤S6.根据M0、M1、M2，计算硼酸的含量。本发明提供的染料系偏光膜加工槽液中硼酸含量的测定方法，具有操作简单，易于实现，且人为干扰少，无需依赖大型仪器，成本低的特点，便于推广应用。
专利类型：	发明专利
申请人：	佛山纬达光电材料股份有限公司
发明人：	邓崇浩
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T17:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T10:00:00+0805
申请号：	CN201911301396.2
公开号：	CN110987714A
代理机构：	深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	王永文
分类号：	G01N5/04;G01N1/34;G;G01;G01N;G01N5;G01N1;G01N5/04;G01N1/34
申请人地址：	528136 广东省佛山市三水区西南石南大道佛塑新材料工业园
主权项：	1.一种染料系偏光膜加工槽液中硼酸含量的测定方法，其特征在于，所述方法包括步骤：步骤S1.待测样品的预处理，将待测样品进行过滤，去除微小杂质；步骤S2.用电子天平准确称量坩埚及带盖的重量，记为M0；步骤S3.在坩埚中加入预处理后的待测硼酸溶液样品，加盖后用电子天平称重，记为M1；步骤S4.将称重后的样品放入加热设备中进行加热，程序升温至600～1000℃；步骤S5.焙烧结束后，降至室温，取出坩埚，恒重，然后用电子天平对坩埚进行称重，记为M2；步骤S6.根据M0、M1、M2，计算硼酸的含量。 2.根据权利要求1所述的染料系偏光膜加工槽液中硼酸含量的测定方法，其特征在于，所述步骤S4中程序升温具体为：第一阶段，常温至120℃，升温时间1～3min，保温1～2min；第二阶段120～500℃，升温时间3～5min，保温1～2min；第三阶段：500～1000℃，升温时间1～3min，保温1～3min。 3.根据权利要求2所述的染料系偏光膜加工槽液中硼酸含量的测定方法，其特征在于，所述第三阶段：500～800℃，升温时间1min，保温3min。 4.根据权利要求1所述的染料系偏光膜加工槽液中硼酸含量的测定方法，其特征在于，所述步骤S1具体包括：取待测液体，先静置10～15min，然后将上层清液通过抽滤装置抽滤，收集滤液作为待测样品。 5.根据权利要求4所述的染料系偏光膜加工槽液中硼酸含量的测定方法，其特征在于，所述抽滤装置采用中速滤纸。 6.根据权利要求1所述的染料系偏光膜加工槽液中硼酸含量的测定方法，其特征在于，所述步骤S3中，硼酸溶液样品的取样量为2～10g。 7.根据权利要求1所述的染料系偏光膜加工槽液中硼酸含量的测定方法，其特征在于，所述方法平行样品的数量不少于3个。
所属类别：	发明专利