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原文传递 一种碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法
专利名称: 一种碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法
摘要: 本发明公开了一种碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法,所述方法包括步骤:步骤S1.待测样品的预处理,取待测样品,先过滤,然后加入四氯化碳,萃取,留水相;步骤S2.用电子天平准确称量洁净的带盖的坩埚的重量,记为M0;步骤S3.用移液管移取5~10mL的预处理后的待测样品于坩埚中,记下样品体积为V;步骤S4.将坩埚加盖并放入加热设备中进行加热,升温至600~1000℃,保温10~40min;步骤S5.焙烧结束后,降至室温,取出坩埚,恒重,然后用电子天平对坩埚进行称重,记为M1;步骤S6.根据M0、M1、V,计算硼酸的浓度。本发明提供的碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法,具有操作简单,易于实现,且碘干扰少,无需依赖大型仪器,成本低的特点,便于推广。
专利类型: 发明专利
申请人: 佛山纬达光电材料股份有限公司
发明人: 邓崇浩
专利状态: 有效
申请日期: 1900-01-20T17:00:00+0805
发布日期: 1900-01-20T10:00:00+0805
申请号: CN201911301532.8
公开号: CN110987716A
代理机构: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人: 王永文
分类号: G01N5/04;G01N1/34;G;G01;G01N;G01N5;G01N1;G01N5/04;G01N1/34
申请人地址: 528136 广东省佛山市三水区西南石南大道佛塑新材料工业园
主权项: 1.一种碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法,其特征在于,所述方法包括步骤: 步骤S1.待测样品的预处理,取待测样品,先过滤,然后加入四氯化碳,萃取,保留水相; 步骤S2.用电子天平准确称量洁净的带盖的坩埚的重量,记为M0; 步骤S3.用移液管移取5~10mL的预处理后的待测样品于坩埚中,记下样品体积为V; 步骤S4.将坩埚加盖并放入加热设备中进行加热,升温至600~1000℃,保温10~20min; 步骤S5.焙烧结束后,降至室温,取出坩埚,恒重,然后用电子天平对坩埚进行称重,记为M1; 步骤S6.根据M0、M1、V,计算硼酸的浓度。 2.根据权利要求1所述的碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法,其特征在于,所述步骤S1中,所述四氯化碳加入的量与待测溶液的体积比为1~3∶1。 3.根据权利要求2所述的碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法,其特征在于,所述步骤S1中,四氯化碳的萃取次数为1~3次。 4.根据权利要求1所述的碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法,其特征在于,所述步骤S4中,升温速度为50~80℃/min。 5.根据权利要求1所述的碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法,其特征在于,所述步骤S4中,当温度升至180℃时,保温3~5min。
所属类别: 发明专利
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