专利名称: |
基于同轴双波导光纤SPR纳米显微成像装置 |
摘要: |
本发明提供的是一种基于同轴双波导光纤SPR(surface plasma resonance)纳米显微成像装置。其特征是:它由同轴双波导光纤1、同轴双波导光纤连接器2、相机3、计算机4、光源5及光纤6组成。表面等离激元共振能够被有效的约束在光纤锥体圆台端面的金属层表面,且对环境变化非常灵敏,利用同轴双波导光纤1的环形芯1‑1使激光激发表面等离激元与样品相互作用,消除表面等离激元作用于样品后带来的拖尾,同时使用同轴双波导光纤1的中间芯进行散射光收集,经由计算机4处理实现高信噪比和高分辨率的显微成像。该发明使用特种光纤,可有效降低成本、优化结构,可实现便携式高信噪比和高分辨率微纳显微成像。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
桂林电子科技大学 |
发明人: |
苑立波;纪竞凯 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
1900-01-20T17:00:00+0805 |
发布日期: |
1900-01-20T00:00:00+0805 |
申请号: |
CN201911303389.6 |
公开号: |
CN111060481A |
分类号: |
G01N21/552;G01N21/01;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/552;G01N21/01 |
申请人地址: |
541004 广西壮族自治区桂林市桂林金鸡路1号 |
主权项: |
1.基于同轴双波导光纤SPR纳米显微成像装置,其特征是:它由同轴双波导光纤1、同轴双波导光纤连接器2、相机3、计算机4、光源5及光纤6组成。 所述组成中:将光源5发出的光经光纤6的一束穿过同轴双波导光纤连接器2打入同轴双波导光纤1的环形芯1-1,经过微加工的光纤端使得光与光纤锥体圆台端面的金属层特定角度,该角度可在已知参数下求得;激光经过同轴双波导光纤1的环形芯1-1形成一束具有特定入射角的光照明样品,其具有足够大的波矢可以有效地激发光纤锥体圆台端面的金属层中存在的等离激元;表面等离激元传播经过样品时,会发出散射信号光和表面拖尾,该激光由同轴双波导光纤1的环形芯1-1入射,同时360度激发表面等离激元,可以有效消除表面拖尾;散射光由连接相机3的同轴双波导光纤1的中间芯1-2收集,并与光源的另一束光在相机3上形成干涉图,由计算机4利用离轴数字全息算法,从光纤中提取图像的赋值和相位在计算机上还原图像,从而可以获得高分辨率和对比度的表面波显微成像。 2.根据权利要求1所述的基于同轴双波导光纤SPR纳米显微成像装置,所使用的同轴双波导光纤1是一种具有沿轴心对称环形波导且中间具有一个大芯径纤芯的光纤。 3.根据权利要求1所述的基于同轴双波导光纤SPR纳米显微成像装置,其特征在于,利用同轴双波导光纤1的环形芯1-1传输入射光,可以同时激发360度表面等离激元,从而消除单一方向激发表面等离激元造成成像的表面拖尾;利用同轴双波导光纤1的环形芯1-2收集后向散射光,采用光纤成像技术获得高信噪比和高分辨率的图像。 |
所属类别: |
发明专利 |