原文传递
多孔金属氧化物分光光谱探测系统
| 专利名称： | 多孔金属氧化物分光光谱探测系统 |
| 摘要： | 一种实现透射光谱探测的多孔金属氧化物分光光谱探测系统。该系统由光源、样品池、多孔金属氧化物、彩色成像器件构成，光源与样品池的距离为D1，样品池与多孔金属氧化物的距离为D2，多孔金属氧化物与彩色成像器件的距离为D3，光源、样品池、多孔金属氧化物的中心在一条直线上，多孔金属氧化物法线与此条直线的夹角为α。该系统中用于分光的多孔金属氧化物通过阳极氧化金属材料的方法制备，其中制备电压为U，试剂为酸溶液，制备时长为t，制备温度为T，此时多孔金属氧化物的孔径为高斯分布，孔半径均值为r，标准差为δr。该光谱探测系统可实现液体的可见光波段透射光谱高效低成本探测。本发明在光谱仪、食品药品检测等领域有重要的应用价值。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 南开大学 |
| 发明人： | 匡登峰;杨卓;李文爽;赵梦娴 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 1900-01-20T23:00:00+0805 |
| 发布日期： | 1900-01-20T10:00:00+0805 |
| 申请号： | CN201911305830.4 |
| 公开号： | CN110987837A |
| 分类号： | G01N21/31;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/31 |
| 申请人地址： | 300350 天津市津南区同砚路38号 |
| 主权项： | 1.一种实现透射光谱探测的多孔金属氧化物分光光谱探测系统，该系统由光源、样品池、多孔金属氧化物、彩色成像器件构成，光源与样品池的距离为D1，样品池与多孔金属氧化物的距离为D2，多孔金属氧化物与彩色成像器件的距离为D3，光源、样品池、多孔金属氧化物的中心在一条直线上，多孔金属氧化物法线与此条直线的夹角为α。 2.根据权利要求1所述的多孔金属氧化物分光光谱探测系统，其特征在于该光谱探测系统内光源为超连续激光光源或白光光源或发光二极管。 3.根据权利要求1或2所述的多孔金属氧化物分光光谱探测系统，其特征在于该光谱探测系统中彩色成像器件为彩色电荷耦合器件或彩色互补金属氧化物半导体感光元件。 4.根据权利要求1或2或3所述的多孔金属氧化物分光光谱探测系统，其特征在于该系统中用于分光的多孔金属氧化物通过阳极氧化金属材料的方法制备，其中制备电压为U，试剂为酸溶液，制备时长为t，制备温度为T，此时多孔金属氧化物的孔径为高斯分布，孔半径均值为r，标准差为δr。 5.根据权利要求1或2或3或4所述的多孔金属氧化物分光光谱探测系统，其特征在于该光谱探测系统可实现液体的可见光波段透射光谱高效低成本探测。 6.根据权利要求1或2或3或4或5所述的多孔金属氧化物分光光谱探测系统，其特征在于探测方法为入射光透过待测样品液照射到多孔金属氧化物后，由彩色成像器件探测多孔金属氧化物反射散斑并从中提取明度与色调的相关信息。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
