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原文传递一种DNAPL污染黏性土结构演化的分析评价方法

专利名称：	一种DNAPL污染黏性土结构演化的分析评价方法
摘要：	本发明公开了一种DNAPL污染黏性土结构演化的分析评价方法，包括以下步骤：确定目标场地的环境基础数据；在目标土层中采集无污染黏性土原状土样和DNAPL污染黏性土原状土样；将所获原状土样分别切成电镜扫描试验和压汞实验要求尺寸的无污染黏性土粒和DNAPL污染黏性土粒，并进行冷冻干燥；之后将无污染黏性土粒和DNAPL污染黏性土粒进行电镜扫描试验；将经冷冻干燥后的无污染黏性土粒和DNAPL污染黏性土粒进行压汞实验；根据电镜扫描试验和压汞实验的成果，分析黏性土微结构变化，以评价黏性土对污染物迁移的影响。本发明的优点是:通过电镜扫描和压汞实验研究DNAPL污染前后黏性土，为掌握黏性土与有机污染物相互作用而引起的微结构演化及迁移特性变化具有重要意义。
专利类型：	发明专利
申请人：	上海勘察设计研究院(集团)有限公司
发明人：	许丽萍;李韬;沈超;吴育林;梁颖
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T18:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T14:00:00+0805
申请号：	CN201911306209.X
公开号：	CN111007095A
代理机构：	上海申蒙商标专利代理有限公司
代理人：	黄明凯
分类号：	G01N23/2251;G01N23/2202;G01N15/08;G01N1/28;G01N1/42;G;G01;G01N;G01N23;G01N15;G01N1;G01N23/2251;G01N23/2202;G01N15/08;G01N1/28;G01N1/42
申请人地址：	200093 上海市杨浦区水丰路38号
主权项：	1.一种DNAPL污染黏性土结构演化的分析评价方法，其特征在于所述分析评价方法包括以下步骤：（1）确定目标场地的环境基础数据，所述环境基础数据包含环境水文地质条件和土壤、地下水环境监测结果；（2）根据所述环境基础数据，在所述目标场地内的目标土层中采集原状土样并进行快速筛查以确保采集获得无污染黏性土原状土样和DNAPL污染黏性土原状土样；（3）将所述无污染黏性土原状土样分别切成电镜扫描试验和压汞实验要求尺寸的无污染黏性土粒，将所述DNAPL污染黏性土原状土样分别切成电镜扫描试验和压汞实验要求尺寸的DNAPL污染黏性土粒，将所获得的所述无污染黏性土粒和所述DNAPL污染黏性土粒放入冷冻干燥机进行冷冻干燥；（4）将经冷冻干燥后的所述无污染黏性土粒和所述DNAPL污染黏性土粒进行电镜扫描试验；（5）将经冷冻干燥后的所述无污染黏性土粒和所述DNAPL污染黏性土粒进行压汞实验；（6）根据所述电镜扫描试验和所述压汞实验的成果，分析黏性土微结构变化，以评价黏性土对污染物迁移的影响；其中，所述黏性土微结构变化是指所述无污染黏性土粒和所述DNAPL污染黏性土粒之间的电镜扫描试验成果差异和压汞实验成果差异。 2.根据权利要求1所述的一种DNAPL污染黏性土结构演化的分析评价方法，其特征在于所述快速筛查通过采用光离子化检测器PID进行。 3.根据权利要求1所述的一种DNAPL污染黏性土结构演化的分析评价方法，其特征在于所述无污染黏性土粒和所述DNAPL污染黏性土粒通过所述冷冻干燥机进行冷冻以使土壤中的孔隙水排出但不破坏土壤的结构。 4.根据权利要求1所述的一种DNAPL污染黏性土结构演化的分析评价方法，其特征在于所述电镜扫描试验成果包括黏性土的颗粒形状、排列、结构及接触方式。 5.根据权利要求1所述的一种DNAPL污染黏性土结构演化的分析评价方法，其特征在于所述压汞实验成果包括黏性土孔隙率、总注入汞量、总孔隙面积、体积密度、表观密度及压汞实验进孔体积增量与孔径曲线。 6.根据权利要求1所述的一种DNAPL污染黏性土结构演化的分析评价方法，其特征在于步骤（6）还包括：根据所述目标场地内各个土层的所述DNAPL污染黏性土粒的电镜扫描试验成果差异和压汞实验成果差异，分析评价黏性土对污染物迁移的影响。
所属类别：	发明专利