专利名称: |
一种免标定的气体浓度测量装置及方法 |
摘要: |
一种免标定的气体浓度测量装置及方法,其装置包括直接吸收光谱装置和衰荡光谱装置,两装置气室相互联通,共用一个激光器。激光器出射光分为两束,一束进入直接吸收光谱装置,另一束进入衰荡光谱测量装置,通过程序控制实现两种光谱技术分时测量。该方法通过直接拟合透射光强,得到气体浓度,实现了直接吸收光谱免标定测量。利用直接吸收光谱测量的气体吸收率,以及衰荡光谱测量的蕴含气体吸收的衰荡时间,计算得到空腔衰荡时间,实现衰荡光谱免标定测量。本发明根据两种光谱的测量精度和量程智能选择测量结果,测量精度在高浓度时约10‑20ppm,低浓度时小于1ppm,且测量过程无需标定,具有测量速度快、操作简单等优点。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
清华大学 |
发明人: |
彭志敏;王振;丁艳军 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
1900-01-20T20:00:00+0805 |
发布日期: |
1900-01-20T08:00:00+0805 |
申请号: |
CN201911328202.8 |
公开号: |
CN111122496A |
代理机构: |
北京鸿元知识产权代理有限公司 |
代理人: |
邸更岩 |
分类号: |
G01N21/39;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/39 |
申请人地址: |
100084 北京市海淀区北京市100084信箱82分箱清华大学专利办公室 |
主权项: |
1.一种免标定的气体浓度测量装置,该测量装置包括可调谐半导体激光器(3)、激光控制器(2)、信号发生器(22)、计算机(1)、干涉仪(23)、第一光电探测器(21)和长光程气体吸收池(17);其特征在于:该气体浓度测量装置还包括衰荡光谱测量装置,该装置包括衰荡腔(8)、第二光电探测器(13)和脉冲延迟器(15)以及声光调制器(6);所述衰荡腔(8)与长光程气体吸收池(17)通过管路连接;所述可调谐半导体激光器(3)发出的激光束经过光隔离器(4)、分束器(5)后分为两束,一束经过第一光准直器(16)、长光程气体吸收池(17)、第二聚焦透镜(20)和第一光电探测器(21)后,经采集卡(14)采集; 另一束经过声光调制器(6)、第二光准直器(7)、衰荡腔(8)、第二聚焦透镜(12)和第二光电探测器(13)后分为两路,分别进入采集卡(14)和脉冲延迟器(15);采集卡(14)采集的两路信号进入计算机(1)分析处理,并反馈给激光控制器(2)。 2.采用如权利要求1所述装置的一种免标定的气体浓度测量方法,其特征在于该方法包括如下步骤: 1)根据待测气体种类,从光谱数据库中选取相应的吸收光谱谱线,其中心频率为v0,谱线强度为S;长光程气体吸收池和衰荡腔通过连接管(24)联通并充入待测气体,待测气体温度为T,压力为P; 2)通过计算机控制激光器的温度和电流,使激光波长在谱线中心频率v0附近以三角波的形式扫描;入射到长光程气体吸收池前的瞬时入射光强度信号为I0;穿过长光程吸收池后,瞬时透射光强信号为It;根据比尔-朗伯定律,It可表示为: 式中:L为气体吸收池有效光程,X为待测气体浓度,为待测气体谱线线型函数,利用干涉仪标定激光相对波长v,采用公式(1)对测量的It进行拟合即得到吸收率函数α(v); 3)通过计算机控制激光器的温度和电流,使激光波长固定在谱线中心频率v0处,利用压电陶瓷扫描衰荡腔的腔长;当第二光电探测器的接收光强最大时,脉冲延迟器发出脉冲信号,该信号使声光调制器瞬间关断激光,从而得到单指数式衰减的光强信号,对此信号进行拟合即得到衰荡时间τ: 式中:c为光速,为中心频率v0处待测气体谱线线型函数,τ0为空腔衰荡时间;根据步骤2),得到则中心频率v0处有将其代入公式(2)得到: 将测量的衰荡时间τ和中心频率v0处的α(v0)代入公式(3)即得到空腔衰荡时间τ0,再将计算的τ0代入公式(2),即实现气体浓度X的测量。 |
所属类别: |
发明专利 |