专利名称: |
一种测量铝熔体中氢扩散系数的装置及方法 |
摘要: |
一种测量铝熔体中氢扩散系数的装置及方法,括质子导体固体电解质管、陶瓷管支撑体、密封塞、陶瓷片和直流电源;方法为:(1)将铝置于质子导体固体电解质管内,将装置置于电阻炉内;(2)向电阻炉内通入H2,通入质子导体固体电解质管内;(3)H2充满后,将质子导体固体电解质管升温至测量温度,金属铝熔化,电极引线底端位于铝熔体内;H2溶于铝熔体;(4)对质子导体固体电解质管内壁和外壁之间施加电压,氢通过质子导体固体电解质管的外壁析出,记录电流数据值;(5)采用记录的电流数据值计算氢扩散系数DH。本发明的装置及方法测试灵活,测量速度快,一次测量可得到多组温度下铝熔体中氢的扩散系数,测量结果重现性高,结果精确。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
东北大学 |
发明人: |
厉英;丁玉石 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
1900-01-20T00:00:00+0805 |
发布日期: |
1900-01-20T17:00:00+0805 |
申请号: |
CN201911345398.1 |
公开号: |
CN111024558A |
代理机构: |
沈阳东大知识产权代理有限公司 |
代理人: |
李珉 |
分类号: |
G01N13/00;G;G01;G01N;G01N13;G01N13/00 |
申请人地址: |
110819 辽宁省沈阳市和平区文化路3号巷11号 |
主权项: |
1.一种测量铝熔体中氢扩散系数的装置,其特征在于包括质子导体固体电解质管(2)、陶瓷管支撑体(5)、密封塞(9)、陶瓷片(1)和直流电源(10);质子导体固体电解质管(2)底部通过高温粘结剂与陶瓷片(1)粘接固定,质子导体固体电解质管(2)顶部的外壁通过高温粘结剂与陶瓷支撑体(5)底部的内壁粘接固定;陶瓷管支撑体(5)顶部与密封塞(9)装配在一起,通气管(6)和电极引线(7)穿过密封塞(9)插入陶瓷管支撑体(5)内部,密封塞(9)上还设有出气口(8);质子导体固体电解质管(2)的外壁上固定连接有多孔电极(3);电源(10)的正极与电极引线(7)连接,负极通过导线与多孔电极(3)连接,导线上串联有电流表。 2.根据权利要求1所述的测量铝熔体中氢扩散系数的装置,其特征在于该装置位于电阻炉(12)内,电阻炉的内部设有进气管(14)与气源连通。 3.一种测量铝熔体中氢扩散系数的方法,其特征在于采用权利要求1所述的装置,按以下步骤进行: (1)将金属铝置于质子导体固体电解质管(2)内,将测量铝熔体中氢扩散系数的装置置于电阻炉(12)内;出气口(8)与电阻炉(12)外部连通; (2)通过进气管(14)向电阻炉(12)内通入H2,并通过通气管(6)将H2通入质子导体固体电解质管(2)内; (3)当H2充满电阻炉(12)内部及质子导体固体电解质管(2)内部后,开启电阻炉(12)将质子导体固体电解质管(2)升温至测量温度,此时金属铝熔化形成铝熔体(13),并且电极引线(7)的底端位于铝熔体(13)内;通入的部分H2溶于铝熔体(13)内,多余的H2从出气口(8)排出; (4)开启直流电源(10),对质子导体固体电解质管(2)内壁和外壁之间施加0.5~5V电压,铝熔体中的氢在电压作用下通过质子导体固体电解质管(2)的外壁析出,此时通过电流表记录不同时间的电流数据值; (5)采用记录的电流数据值计算氢扩散系数DH=-0.173·k·a2;其中,a为质子导体固体电解质管(2)的内径,单位cm,r为质子导体固体电解质管(2)内壁到扩散源的距离,单位cm;所述的扩散源为质子导体固体电解质管(2)的轴线处。 |
所属类别: |
发明专利 |