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原文传递一种光纤外涂覆层原位模量测试方法

专利名称：	一种光纤外涂覆层原位模量测试方法
摘要：	本发明公开了一种光纤外涂覆层原位模量测试方法，包括以下步骤：(1)用握持部件将待测双层涂覆层的光纤一端以预设的预紧力握持预设长度从而固定，所述光纤其余部分为游离端；(2)在握持部分外侧形成环形涂覆层缺口，所述环形缺口暴露玻璃层；(3)将游离端沿光纤轴向施加剥离力，使得所述光纤玻璃纤芯与被握持部分的光纤外涂覆层分离，获得带有光纤外涂覆层的握持部件；(4)将光纤外涂覆层分离，获得光纤外涂覆层原位模量测试样品；(5)进行杨氏模量测试，获得所述待测光纤的涂覆层原位模量。本发明对于成品光纤的真实光纤外涂覆层样品，实现了直接测试光纤外护层的拉伸模量的测试，能够取代之前薄膜制备的间接测试方法。
专利类型：	发明专利
申请人：	长飞光纤光缆股份有限公司
发明人：	张立岩;段建彬;严长峰;李婧;张明;胡勇;汪洪海;曹蓓蓓
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T08:00:00+0805
申请号：	CN201911362060.7
公开号：	CN111122321A
代理机构：	武汉臻诚专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	胡星驰
分类号：	G01N3/08;G01N3/02;G01N1/04;G01M11/00;G;G01;G01N;G01M;G01N3;G01N1;G01M11;G01N3/08;G01N3/02;G01N1/04;G01M11/00
申请人地址：	430074 湖北省武汉市洪山区武汉市东湖新技术开发区光谷大道九号
主权项：	1.一种光纤外涂覆层原位模量测试方法，其特征在于，包括以下步骤： (1)用握持部件将待测双层涂覆层的光纤一端以预设的预紧力握持预设长度从而固定，所述光纤其余部分为游离端； (2)对于步骤(1)中固定的光纤，在握持部分外侧形成环形涂覆层缺口，所述环形缺口暴露玻璃层； (3)将步骤(2)中获得的环切涂覆层的光纤其游离端沿光纤轴向施加剥离力，使得所述光纤玻璃纤芯与被握持部分的光纤外涂覆层分离，获得带有光纤外涂覆层的握持部件； (4)将光纤外涂覆层从步骤(3)中获得的带有光纤外涂覆层的握持部件中分离，获得光纤外涂覆层原位模量测试样品； (5)对步骤(4)获得的光纤外涂覆层原位模量测试样品，进行杨氏模量测试，获得所述待测光纤的涂覆层原位模量。 2.如权利要求1所述的光纤外涂覆层原位模量测试方法，其特征在于，步骤(1)预紧力小于等于30N，握持面积大于或等于光纤侧面50％，所述握持部件握持长度在1至3cm之间。 3.如权利要求1所述的光纤外涂覆层原位模量测试方法，其特征在于，所述握持部件包括上、下夹板，所述上下夹板之间通过带有弹簧的螺栓施加预紧力，所述上下夹板中具有相互配合的圆弧凹槽，用于握持所述待测双层涂覆层光纤。 4.如权利要求3所述的光纤外涂覆层原位模量测试方法，其特征在于，所述凹槽深度略浅于所述待测光纤的半径。 5.如权利要求1所述的光纤外涂覆层原位模量测试方法，其特征在于，所述步骤(2)所述环形缺口沿光纤轴向长度在1-2mm之间，获得环切涂覆层的光纤。 6.如权利要求1所述的光纤外涂覆层原位模量测试方法，其特征在于，所述步骤(2)采用剥线钳形成所述环形切口。 7.如权利要求1所述的光纤外涂覆层原位模量测试方法，其特征在于，所述步骤(3)使得所述光纤处于竖直方向。 8.如权利要求7所述的光纤外涂覆层原位模量测试方法，其特征在于，所述步骤(3)使得所述握持部件处于光纤下方，则重力使得所述光纤处于竖直方向，所述游离端沿光纤轴向施加剥离力为游离端沿竖直方向施加剥离力。 9.如权利要求1所述的光纤外涂覆层原位模量测试方法，其特征在于，所述步骤(3)使得所述光纤玻璃纤芯于所述光纤外涂覆层以小于等于20mm/s的速度分离。 10.如权利要求3所述的光纤外涂覆层原位模量测试方法，其特征在于，所述步骤(3)将所述握持部件的上下夹板分离，从上夹板或下夹板上剥离所述光纤外涂覆层，获得光纤外涂覆层原位模量测试样品。
所属类别：	发明专利