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原文传递一种超低粉尘测量装置

专利名称：	一种超低粉尘测量装置
摘要：	本发明涉及一种超低粉尘测量装置，包括前向测量区，其设置于前壳体内腔，并且使由激光器组件发出的光束经过测量区的颗粒物产生前向散射光束；还包括锥透镜，其设置于前、后壳体内部的相接位置处，并且使射入的前向散射光束转变成平行光束；还包括反射镜，其倾斜设置于后壳体内腔，并且使射入的平行光束反射之后再垂直射出。本发明将以往粉尘测量装置测量区惯用配置的球面镜优化为采用锥透镜，有利于提升测量区的准确度；同时，通过使测量区设置在装置自身封闭部位的前段而形成前向散射的构造，不但使测量区域在免受外界干扰的状态下有利于进一步提升测量的准确度，而且还有利于提升装置整体测量的灵敏度。
专利类型：	发明专利
申请人：	民政部一零一研究所
发明人：	田霖;黄风光;史峰;李秉杰;孟浩
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
申请号：	CN201911377233.2
公开号：	CN111060429A
代理机构：	广东腾锐律师事务所
代理人：	莫建坤
分类号：	G01N15/06;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/06
申请人地址：	100000 北京市丰台区南四环西路188号十区33号楼
主权项：	1.一种超低粉尘测量装置，其带有内部相连通的前、后壳体，其中的前壳体的前端装配用于发射光束的激光器组件，其中的后壳体的下端装配用于汇聚光束的接收传感器，其特征在于，所述粉尘测量装置包括：前向测量区，其设置于所述前壳体内腔，并且使由所述激光器组件发出的光束经过所述测量区的颗粒物产生前向散射光束；锥透镜，其设置于所述前、后壳体内部的相接位置处，并且使射入的前向散射光束转变成平行光束；反射镜，其倾斜设置于所述后壳体内腔，并且使射入的所述平行光束反射之后再垂直射出。 2.根据权利要求1所述的超低粉尘测量装置，其特征在于：还包括水平设置于所述接收传感器上方的接收透镜，其用于使经过所述反射镜垂直射出的光束汇聚于所述接收传感器。 3.根据权利要求1所述的超低粉尘测量装置，其特征在于：还包括设置于所述锥透镜中心位置处的陷光组件，用于吸收射入所述锥透镜产生反射光而干扰测量的光束。 4.根据权利要求3所述的超低粉尘测量装置，其特征在于：所述陷光组件包括筒形且表面黑化的陷光组件。 5.根据权利要求3所述的超低粉尘测量装置，其特征在于：所述干扰测量的光束包括穿过所述测量区且垂直射入所述锥透镜中心处的激光束。 6.根据权利要求1-5任一项所述的超低粉尘测量装置，其特征在于：所述前、后壳体采用快速密封方式，并且使所述前向测量区处于所述前壳体内部的密封部之前。 7.根据权利要求6所述的超低粉尘测量装置，其特征在于：所述密封部将测量装置分为前向测量区与后向反射区。 8.根据权利要求1所述的超低粉尘测量装置，其特征在于：所述后壳体包括相互连通的水平段与垂直段。 9.根据权利要求8所述的超低粉尘测量装置，其特征在于：所述水平段一端与所述前壳体的一端衔接并且前、后壳体之间通过密封圈进行密封。 10.根据权利要求9所述的超低粉尘测量装置，其特征在于：所述接收传感器位置处于所述后壳体的垂直段底部中心位置处。
所属类别：	发明专利