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原文传递一种用于SERS检测的芯片反馈调节装置

专利名称：	一种用于SERS检测的芯片反馈调节装置
摘要：	本发明公开了一种用于SERS检测的芯片反馈调节装置，支架的滑轨上设有可滑动安装的滑台，滑台上设有平行于滑轨方向延伸的螺孔，螺旋导杆可转动安装在支架上且与滑台的螺孔螺纹配合，步进电机的驱动轴与螺旋导杆同轴布置且与螺旋导杆连接；检测盘位于滑台朝向拉曼检测仪一侧且与拉曼检测仪相对设置，检测盘上设有芯片安装位。通过上述优化设计的用于SERS检测的芯片反馈调节装置，通过步进电机驱动螺旋导杆转动，实现检测盘相对于拉曼检测仪的步进式调节，使得拉曼信号强度最大，保证检测精度，减小调节过程造成的仪器振动。
专利类型：	发明专利
申请人：	安徽中科赛飞尔科技有限公司
发明人：	杨良保;汪亚东;董荣录;林东岳;陈慧;于建强
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
申请号：	CN201911384827.6
公开号：	CN111060494A
代理机构：	合肥市长远专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	程笃庆
分类号：	G01N21/65;G01N21/01;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/65;G01N21/01
申请人地址：	230000 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期F3楼1006-1008室
主权项：	1.一种用于SERS检测的芯片反馈调节装置，其特征在于，包括：步进电机(2)、支架(10)、螺旋导杆(7)、拉曼检测仪(5)、检测盘(6)；支架(10)上设有竖直延伸的滑轨，滑轨上设有可滑动安装的滑台(3)，滑台(3)上设有平行于滑轨方向延伸的螺孔，螺旋导杆(7)可转动安装在支架(10)上且与滑台(3)的螺孔螺纹配合，步进电机(2)位于支架(10)一侧，步进电机(2)的驱动轴与螺旋导杆(7)同轴布置且与螺旋导杆(7)连接；拉曼检测仪(5)安装在支架(10)上且位于螺旋导杆(7)远离步进电机(2)一端，检测盘(6)位于滑台(3)朝向拉曼检测仪(5)一侧且与拉曼检测仪(5)相对设置，检测盘(6)上设有芯片安装位。 2.根据权利要求1所述的用于SERS检测的芯片反馈调节装置，其特征在于，还包括距离传感器(4)，距离传感器(4)安装在支架(10)上且位于螺旋导杆(7)远离步进电机(2)一端，距离传感器(4)用于检测检测盘(6)上的芯片位置。 3.根据权利要求2所述的用于SERS检测的芯片反馈调节装置，其特征在于，还包括控制系统，控制系统与距离传感器(4)和步进电机(2)连接，控制系统用于根据距离传感器(4)的检测信号控制步进电机(2)驱动检测盘(6)移动以调节待测芯片与拉曼检测仪(5)之间的距离。 4.根据权利要求1所述的用于SERS检测的芯片反馈调节装置，其特征在于，还包括控制系统，控制系统与拉曼检测仪(5)和步进电机(2)连接，控制系统用于根据拉曼检测仪(5)的检测强度控制步进电机(2)驱动检测盘(6)移动以调节待测芯片与拉曼检测仪(5)之间的距离。 5.根据权利要求4所述的用于SERS检测的芯片反馈调节装置，其特征在于，控制系统内预设拉曼强度阈值，控制系统根据拉曼检测仪(5)的检测强度与所述预设拉曼强度阈值的比较结果控制步进电机(2)工作。 6.根据权利要求5所述的用于SERS检测的芯片反馈调节装置，其特征在于，控制系统根据所述检测强度低于所述预设拉曼强度阈值，控制步进电机(2)驱动检测盘(6)向靠近拉曼检测仪(5)的方向移动；控制系统根据所述检测强度高于所述预设拉曼强度阈值，控制步进电机(2)驱动检测盘(6)向远离拉曼检测仪(5)的方向移动。
所属类别：	发明专利