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一种碳碳双键异构体的双键位置鉴定方法
| 专利名称： | 一种碳碳双键异构体的双键位置鉴定方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种碳碳双键异构体的双键位置鉴定方法，通过将蒽醌或菲醌类化合物与含碳碳双键的化合物在可见光激发条件下进行Paternò‑Büchi反应(PB反应)，并应用串联质谱方法对反应产物进行检测和分析，进而判断碳碳双键异构体中双键位置；涉及的PB反应条件简单，副反应少，反应快，产率高，可有效改善现有判断脂质化合物不饱和双键位置的PB光化学反应紫外光激发条件易导致副反应等问题。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 武汉大学 |
| 发明人： | 陈素明;冯桂芳 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 1900-01-20T00:00:00+0805 |
| 发布日期： | 1900-01-20T00:00:00+0805 |
| 申请号： | CN201911412168.2 |
| 公开号： | CN111060584A |
| 代理机构： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 |
| 代理人： | 李欣荣 |
| 分类号： | G01N27/64;G01N1/44;G;G01;G01N;G01N27;G01N1;G01N27/64;G01N1/44 |
| 申请人地址： | 430072 湖北省武汉市武昌区八一路299号 |
| 主权项： | 1.一种碳碳双键异构体的双键位置鉴定方法，其特征在于，包括如下步骤： 1)分别将含不饱和双键的底物和含羰基的反应试剂溶于溶剂中，搅拌均匀得底物溶液和反应试剂溶液； 2)将所得底物溶液和反应试剂溶液混合，然后在可见光的激发下进行光照反应，得到反应产物； 3)将步骤2)所得反应产物注入质谱中，经离子源离子化后，进一步经CID碎裂得到特征碎片离子； 4)对特征碎片离子进行分析，反向推导出不饱和双键的位置。 2.根据权利要求1所述的双键位置鉴定方法，其特征在于，所述含不饱和双键的底物为含有不饱和双键的脂质化合物。 3.根据权利要求1所述的双键位置鉴定方法，其特征在于，所述含羰基的反应试剂为蒽醌、菲醌或二者对应的衍生物。 4.根据权利要求1所述的双键位置鉴定方法，其特征在于，所述溶剂为水、甲醇、乙醇、乙腈、氯仿中的一种或几种。 5.根据权利要求1所述的双键位置鉴定方法，其特征在于，所述可见光波长为380～430nm。 6.根据权利要求1所述的位置鉴定方法，其特征在于，所述含羰基的反应试剂与含不饱和双键底物的摩尔比为0.01～100。 7.根据权利要求1所述的双键位置鉴定方法，其特征在于，所述光照反应时间为0.5～60min。 8.根据权利要求1所述的双键位置鉴定方法，其特征在于，步骤4)中所述分析步骤为根据步骤2)所得产物的二级质谱图，分析得到理论的二级碎片离子的分子式，与底物或光照反应产物的分子式对比，并结合特征离子的不饱和度，从而反向推导出双键的位置。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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