专利名称: |
基于环氧化及质谱鉴定不饱和脂质碳碳双键位置的方法 |
摘要: |
本发明公开了一种基于环氧化及质谱鉴定不饱和脂质碳碳双键位置的方法。该方法包括:采用低温等离子体对待分析的不饱和脂质进行环氧化衍生;对不饱和脂质环氧化衍生后得到的环氧化产物进行串联质谱分析,得到碳碳双键位置的特异性离子;根据特异性离子鉴定出所述不饱和脂质碳碳双键位置。该方法简单易行,无需对质谱进行改造,采用低温等离子体的环氧化衍生结合串联质谱即可准确、快速地鉴定出不饱和脂质中碳碳双键的位置。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
清华大学 |
发明人: |
马潇潇;欧阳证;曹文波;张四纯;张新荣;赵旭;赵瑶瑶 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-07-05T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-11-12T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910603504.5 |
公开号: |
CN110441383A |
代理机构: |
北京鸿元知识产权代理有限公司 |
代理人: |
曹素云;金庆军 |
分类号: |
G01N27/62(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
申请人地址: |
100084北京市海淀区100084信箱82分箱清华大学专利办公室 |
主权项: |
1.一种基于环氧化及质谱鉴定不饱和脂质碳碳双键位置的方法,其特征在于,所述方法包括: 采用低温等离子体对待分析的不饱和脂质进行环氧化衍生,得到环氧化产物; 对不饱和脂质环氧化衍生后得到的环氧化产物进行串联质谱分析,得到碳碳双键位置的特异性离子; 根据特异性离子,鉴定出所述不饱和脂质碳碳双键位置。 2.根据权利要求1所述的基于环氧化及质谱鉴定不饱和脂质碳碳双键位置的方法,其特征在于,所述低温等离子体通过喷羽吹扫不饱和脂质进行环氧化衍生,其中吹扫时间为20s~30s。 3.根据权利要求1所述的基于环氧化及质谱鉴定不饱和脂质碳碳双键位置的方法,其特征在于,对不饱和脂质衍生后得到的环氧化产物,采用在正模式下或者负模式下,进行串联质谱分析,从而得到碳碳双键位置的特异性离子。 4.根据权利要求3所述的基于环氧化及质谱鉴定不饱和脂质碳碳双键位置的方法,其特征在于,采用碰撞诱导解离的串联质谱进行分析,被环氧化衍生后生成碳碳双键位置的特异性离子,根据特异性离子的质量数,从而鉴定出所述不饱和脂质碳碳双键位置。 5.根据权利要求1所述的基于环氧化及质谱鉴定不饱和脂质碳碳双键位置的方法,其特征在于,所述方法还包括:采用有机溶剂稀释所述不饱和脂质的步骤;其中,不同种类的不饱和脂质,选取不同的有机溶剂进行稀释,所述不饱和脂质的种类包括不饱和脂肪酸和不饱和磷脂。 6.根据权利要求5所述的基于环氧化及质谱鉴定不饱和脂质碳碳双键位置的方法,其特征在于,当所述不饱和脂质为不饱和脂肪酸时,采用丙酮作为有机溶剂;当所述不饱和脂质为不饱和磷脂时,采用乙腈作为有机溶剂。 7.根据权利要求3所述的基于环氧化及质谱鉴定不饱和脂质碳碳双键位置的方法,其特征在于,当鉴定不饱和脂肪酸中的碳碳双键位置时,串联质谱分析在负模式下进行,从而得到碳碳双键位置的特异性离子。 8.根据权利要求3所述的基于环氧化及质谱鉴定不饱和脂质碳碳双键位置的方法,其特征在于,当鉴定不饱和磷脂中的碳碳双键位置时,串联质谱在正模式或负模式下进行,其中,在正模式下直接串联质谱分析得到碳碳双键位置的特异性离子;在负模式下先进行二级质谱分析,得到不饱和磷脂中的脂肪酸链的信息,然后对二级质谱中被环氧化的脂肪酸链进行三级质谱分析,从而得到碳碳双键位置的特异性离子。 9.根据权利要求1~8任一项所述的基于环氧化及质谱鉴定不饱和脂质碳碳双键位置的方法,其特征在于,所述采用低温等离子体对待分析的不饱和脂质进行环氧化衍生的步骤,还包括:采用氦气作为载气,通入交流电产生低温等离子体的步骤;其中,通入氦气的流速为1L/min~1.5L/min;所述交流电的频率15kHz~18kHz,电压峰峰值为3.5~4.5kV。 |
所属类别: |
发明专利 |