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光散射检测装置以及光散射检测方法
| 专利名称： | 光散射检测装置以及光散射检测方法 |
| 摘要： | 提供一种光散射检测装置以及光散射检测方法，不管检测器的配置角度如何都能够良好地维持例如分子量计算精度及粒径计算精度。光散射检测装置具备：试样分析室；光源，其向试样分析室照射相干光；多个检测器，所述多个检测器接收以不同的散射角从试样分析室向周围散射的散射光；以及多个光阑，所述多个光阑限制散射光，其中，试样分析室具有封入有液体试样的试样通道，光源被配置为使相干光从试样通道的一端侧入射并在试样通道内通过，多个检测器被配置在以试样分析室的沿铅垂方向(Z轴方向)延伸的中心轴为中心的同一圆周上，各光阑的开口宽度在配置角度为90°时最大，随着配置角度远离90°而变小。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 株式会社岛津制作所 |
| 发明人： | 山口亨;笠谷敦 |
| 专利状态： | 在审 |
| 申请日期： | 2020-06-23T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2021-02-02T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN202010584458.1 |
| 公开号： | CN112304864A |
| 代理机构： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 刘新宇 |
| 分类号： | G01N21/01;G01N21/51;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/01;G01N21/51 |
| 申请人地址： | 日本京都府 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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