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一种颗粒物全光路校准的测量装置
| 专利名称： | 一种颗粒物全光路校准的测量装置 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种颗粒物全光路校准的测量装置，包括测量腔体和出光部件；测量腔体内设有光阱、光纤、凹面镜、窗口片、进气端和出气端；出光部件通过连接杆安装在设置窗口片一侧的测量腔体的外侧面；出光部件包括准直镜座、激光器和变焦部件；准直镜座上安装有准直透镜；激光器安装在变焦部件上；变焦部件与准直镜座活动连接，即准直透镜与激光器的距离可调整，实现了光束大小的调试。本实用新型设有变焦部件，通过调整变焦部件的位置，调整激光器和透镜的距离使得光束变大，进入量程校准状态，此时光束照射到进气端产生量校光源，实现全光路量程校准。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 徐州治鼎环境科技有限公司 |
| 发明人： | 邢贺;白乐;国昌哲 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2021-09-30T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2022-03-22T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN202122388307.1 |
| 公开号： | CN216117229U |
| 代理机构： | 南宁深之意专利代理事务所(特殊普通合伙) |
| 代理人： | 徐国华 |
| 分类号： | G01N15/06;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/06 |
| 申请人地址： | 221008 江苏省徐州市泉山区三环南路南侧拉犁山园区1-23 |
| 主权项： | 1.一种颗粒物全光路校准的测量装置，包括测量腔体（1）和出光部件（2）；其特征在于：所述测量腔体（1）内设有光阱（11）、光纤（12）、凹面镜（13）、窗口片（14）、进气端（15）和出气端（16）；所述测量腔体（1）内部中央位置为测量区（44）；所述光阱（11）和所述窗口片（14）、所述光纤（12）和所述凹面镜（13）、所述进气端（15）和所述出气端（16）分别两两相相应安装在测量区（44）的六个侧面位置； 所述出光部件（2）通过连接杆（3）安装在设置窗口片（14）一侧的测量腔体（1）的外侧面；所述出光部件（2）包括准直镜座（21）、激光器（22）和变焦部件（23）；所述准直镜座（21）上安装有准直透镜（24）；所述激光器（22）安装在变焦部件（23）上；所述变焦部件（23）与准直镜座（21）活动连接，即准直透镜（24）与激光器（22）的距离可调整。 2.根据权利要求1所述的颗粒物全光路校准的测量装置，其特征在于：所述进气端（15）和测量腔体（1）之间设置有环形狭缝；所述环形狭缝内通入鞘气（41）。 3.根据权利要求1所述的颗粒物全光路校准的测量装置，其特征在于：所述凹面镜（13）能够汇聚从45度到135度的散射光信号。 4.根据权利要求1所述的颗粒物全光路校准的测量装置，其特征在于：所述准直透镜（24）和激光器（22）之间设有平凸透镜；所述的平凸透镜通过伸缩杆安装在变焦部件（23）的底板上。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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