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原文传递 一种四晶单色仪的光路校准方法及校准装置
专利名称: 一种四晶单色仪的光路校准方法及校准装置
摘要: 本发明公开了一种四晶单色仪的光路校准方法及校准装置,其中校准方法包括如下步骤:提供一光源,第一接收屏以及四晶单色仪;使光源发出的入射光照射到第一接收屏上,并记录第一接收屏上的光斑位置为第一光斑位置;保持光源和第一接收屏的相对位置不变,并将四晶单色仪设置于光源与第一接收屏之间;使光源发出的入射光照射到第一晶体上,入射光依次经过第一晶体~第四晶体反射后的出射光照射到第一接收屏上,并记录第一接收屏上的光斑位置为第二光斑位置;调整第一晶体~第四晶体中的至少一个晶体,以使第二光斑位置与第一光斑位置为同一位置。能够解决四晶单色仪中的光路偏移时,直接使用不可见的X射线进行光路校准难度较大的问题。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 江苏;32
申请人: 苏州矩阵光电有限公司
发明人: 吴文俊;张伊唯;周佳琪;马栋梁;张念站
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810432509.1
公开号: CN108872279A
代理机构: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250
代理人: 马永芬
分类号: G01N23/20008(2018.01)I;G01N23/207(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/20008;G01N23/207
申请人地址: 215614 江苏省苏州市张家港市凤凰镇凤凰科创园D栋,矩阵光电
主权项: 1.一种四晶单色仪的光路校准方法,其特征在于,包括如下步骤:提供一光源(1),第一接收屏(2)以及四晶单色仪(3);所述四晶单色仪(3)包括第一晶体(31),第二晶体(32),第三晶体(33)以及第四晶体(34);使所述光源(1)发出的入射光照射到所述第一接收屏(2)上,并记录所述第一接收屏(2)上的光斑位置为第一光斑位置;保持所述光源(1)和所述第一接收屏(2)的相对位置不变,并将所述四晶单色仪(3)设置于所述光源(1)与所述第一接收屏(2)之间;使所述光源(1)发出的入射光照射到所述所述第一晶体(31)上,所述入射光依次经过所述第一晶体(31)、所述第二晶体(32)、所述第三晶体(33)和所述第四晶体(34)反射后的出射光照射到所述第一接收屏(2)上,并记录所述第一接收屏(2)上的光斑位置为第二光斑位置;调整所述第一晶体(31)、所述第二晶体(32)、所述第三晶体(33)和第四晶体(34)中的至少一个晶体,以使所述第二光斑位置与所述第一光斑位置为同一位置。
所属类别: 发明专利
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