专利名称: |
一种四晶单色仪的光路校准方法及校准装置 |
摘要: |
本发明公开了一种四晶单色仪的光路校准方法及校准装置,其中校准方法包括如下步骤:提供一光源,第一接收屏以及四晶单色仪;使光源发出的入射光照射到第一接收屏上,并记录第一接收屏上的光斑位置为第一光斑位置;保持光源和第一接收屏的相对位置不变,并将四晶单色仪设置于光源与第一接收屏之间;使光源发出的入射光照射到第一晶体上,入射光依次经过第一晶体~第四晶体反射后的出射光照射到第一接收屏上,并记录第一接收屏上的光斑位置为第二光斑位置;调整第一晶体~第四晶体中的至少一个晶体,以使第二光斑位置与第一光斑位置为同一位置。能够解决四晶单色仪中的光路偏移时,直接使用不可见的X射线进行光路校准难度较大的问题。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
苏州矩阵光电有限公司 |
发明人: |
吴文俊;张伊唯;周佳琪;马栋梁;张念站 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810432509.1 |
公开号: |
CN108872279A |
代理机构: |
北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 |
代理人: |
马永芬 |
分类号: |
G01N23/20008(2018.01)I;G01N23/207(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/20008;G01N23/207 |
申请人地址: |
215614 江苏省苏州市张家港市凤凰镇凤凰科创园D栋,矩阵光电 |
主权项: |
1.一种四晶单色仪的光路校准方法,其特征在于,包括如下步骤:提供一光源(1),第一接收屏(2)以及四晶单色仪(3);所述四晶单色仪(3)包括第一晶体(31),第二晶体(32),第三晶体(33)以及第四晶体(34);使所述光源(1)发出的入射光照射到所述第一接收屏(2)上,并记录所述第一接收屏(2)上的光斑位置为第一光斑位置;保持所述光源(1)和所述第一接收屏(2)的相对位置不变,并将所述四晶单色仪(3)设置于所述光源(1)与所述第一接收屏(2)之间;使所述光源(1)发出的入射光照射到所述所述第一晶体(31)上,所述入射光依次经过所述第一晶体(31)、所述第二晶体(32)、所述第三晶体(33)和所述第四晶体(34)反射后的出射光照射到所述第一接收屏(2)上,并记录所述第一接收屏(2)上的光斑位置为第二光斑位置;调整所述第一晶体(31)、所述第二晶体(32)、所述第三晶体(33)和第四晶体(34)中的至少一个晶体,以使所述第二光斑位置与所述第一光斑位置为同一位置。 |
所属类别: |
发明专利 |