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原文传递冶炼熔体混杂状况的监测方法、装置、系统以及电子设备

专利名称：	冶炼熔体混杂状况的监测方法、装置、系统以及电子设备
摘要：	本发明公开了一种冶炼熔体混杂状况的监测方法、装置、系统以及电子设备。其中，方法包括：获取标准光谱数据；在冶炼熔体排放过程中进行连续光谱采集，得到采集光谱数据；将采集光谱数据与标准光谱数据进行相关系数计算，并根据计算结果中的最大值得到冶炼熔体的混杂状况。该方法可以实现快速有效地对混杂状况进行监控。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	安徽;34
申请人：	合肥金星智控科技股份有限公司
发明人：	潘从元;张兵;贾军伟;王腾飞
专利状态：	有效
申请日期：	2022-11-23T00:00:00+0800
发布日期：	2022-12-30T00:00:00+0800
申请号：	CN202211472346.2
公开号：	CN115541564A
代理机构：	北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	季永杰
分类号：	G01N21/71;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/71
申请人地址：	230088 安徽省合肥市高新区皖水路228号1幢生产楼
主权项：	1.一种冶炼熔体混杂状况的监测方法，其特征在于，所述方法包括：获取标准光谱数据；在冶炼熔体排放过程中进行连续光谱采集，得到采集光谱数据；将所述采集光谱数据与所述标准光谱数据进行相关系数计算，并根据计算结果中的最大值得到所述冶炼熔体的混杂状况。 2.根据权利要求1所述的冶炼熔体混杂状况的监测方法，其特征在于，所述标准光谱数据包括目标物料标准光谱数据和炉渣标准光谱数据，所述获取标准光谱数据，包括：获取N个目标物料浓度下的目标物料光谱数据和炉渣光谱数据，其中，N为大于1的整数；从N对目标物料光谱数据和炉渣光谱数据中选择M份；针对所选择的每一份，对其中的目标物料光谱数据、炉渣光谱数据分别进行求光谱强度均值运算，得到M对目标物料光谱和炉渣光谱；将M条所述目标物料光谱作为所述目标物料标准光谱数据，并将M条所述炉渣光谱作为所述炉渣标准光谱数据。 3.根据权利要求2所述的冶炼熔体混杂状况的监测方法，其特征在于，所述采集光谱数据包括H条光谱，所述将所述采集光谱数据与所述标准光谱数据进行相关系数计算，包括：将所述采集光谱数据中的每条光谱分别与所述目标物料标准光谱数据中的每条光谱进行相关系数计算，得到H个第一相关系数集合；将所述采集光谱数据中的每条光谱分别与所述炉渣标准光谱数据中的每条光谱进行相关系数计算，得到H个第二相关系数集合。 4.根据权利要求3所述的冶炼熔体混杂状况的监测方法，其特征在于，所述根据计算结果中的最大值得到所述冶炼熔体的混杂状况，包括：针对每个所述第一相关系数集合，获取该第一相关系数集合中的第一相关系数最大值；针对每个所述第二相关系数集合，获取该第二相关系数集合中的第二相关系数最大值；根据H个第一相关系数最大值和H个第二相关系数最大值，对所述采集光谱数据中的光谱进行分类，并根据分类结果得到所述冶炼熔体的混杂状况。 5.根据权利要求4所述的冶炼熔体混杂状况的监测方法，其特征在于，所述根据H个第一相关系数最大值和H个第二相关系数最大值，对所述采集光谱数据中的光谱进行分类，包括：针对每对第一相关系数最大值和第二相关系数最大值，若所述第一相关系数最大值大于预设相关系数阈值，则将对应的光谱分类为第一类光谱；若所述第二相关系数最大值大于所述预设相关系数阈值，则将对应的光谱分类为第二类光谱；若所述第一相关系数最大值和所述第二相关系数最大值均小于等于所述预设相关系数阈值，则将对应的光谱分类为第三类光谱。 6.根据权利要求5所述的冶炼熔体混杂状况的监测方法，其特征在于，所述根据分类结果得到所述冶炼熔体的混杂状况，包括：根据下式得到混杂因子：，，其中，为渣混杂因子，为全混杂因子，分别为所述第一类光谱、所述第二类光谱、所述第三类光谱中包含的光谱数量；根据所述渣混杂因子和所述全混杂因子得到所述混杂状况。 7.根据权利要求2所述的冶炼熔体混杂状况的监测方法，其特征在于，M的取值范围为18~22。 8.一种电子设备，其特征在于，包括存储器、处理器和存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，实现如权利要求1-7中任一项所述的冶炼熔体混杂状况的监测方法。 9.一种冶炼熔体混杂状况的监测装置，其特征在于，所述装置包括：获取模块，用于获取标准光谱数据；采集模块，用于在冶炼熔体排放过程中进行连续光谱采集，得到采集光谱数据；比对模块，用于将所述采集光谱数据与所述标准光谱数据进行相关系数计算，并根据计算结果中的最大值得到所述冶炼熔体的混杂状况。 10.一种冶炼熔体混杂状况的监测系统，其特征在于，包括：激光诱导击穿光谱仪，用于在冶炼熔体排放过程中进行连续光谱采集；如权利要求9所述的冶炼熔体混杂状况的监测装置。