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原文传递电场与温度场下微纳米粒子运动的原位观测系统及应用

专利名称：	电场与温度场下微纳米粒子运动的原位观测系统及应用
摘要：	本发明公开了一种电场与温度场下微纳米粒子运动的原位观测系统及应用，所述的观测系统包括电压控制单元、温度控制单元、反应单元、观测单元和外部光源；所述反应单元包括样品槽；所述温度控制单元和所述电压控制单元分别为所述样品槽提供温度场和电场，同时外部光源的光线进入所述样品槽时，观测单元观测并记录在电场与温度场下，样品槽内复合液体样品的微纳米粒子运动。本发明的原位观测系统既可控制观测样品的温度，样品槽内电极还可控制微/纳米粒子受电泳/介电泳作用进行运动，通过观测单元即可完成材料微观层面高分辨率的粒子运动状态在线观测与记录分析；本发明的原位观测系统装配简单，可广泛应用于微/纳米粒子的操控与装配等领域。
专利类型：	发明专利
申请人：	武汉大学;平高集团有限公司
发明人：	潘成;毛诗壹;唐炬;潘子君;郝留成;袁端鹏;王亚祥
专利状态：	有效
申请日期：	2023-06-15T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-07T00:00:00+0800
申请号：	CN202310715838.8
公开号：	CN117007473A
代理机构：	武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：	张火春
分类号：	G01N15/00;C25D13/22;C25D13/00;G;C;G01;C25;G01N;C25D;G01N15;C25D13;G01N15/00;C25D13/22;C25D13/00
申请人地址：	430072 湖北省武汉市武昌区八一路299号;
主权项：	1.电场与温度场下微纳米粒子运动的原位观测系统，其特征在于，包括电压控制单元、温度控制单元、反应单元、观测单元和外部光源；所述反应单元包括样品槽；所述温度控制单元和所述电压控制单元分别为所述样品槽提供温度场和电场，同时外部光源的光线进入所述样品槽时，观测单元观测并记录在电场与温度场下，样品槽内复合液体样品的微纳米粒子运动。 2.根据权利要求1所述的电场与温度场下微纳米粒子运动的原位观测系统，其特征在于，所述反应单元还包括外腔和底板；所述外腔和所述底板固定时形成储物槽；所述底板和所述样品槽的材质为透光材料；所述样品槽固定在所述外腔上；所述储物槽和所述样品槽空间为传热腔；所述传热腔填充有传热介质，所述传热介质为沸点高于110℃的透明液体。 3.根据权利要求1所述的电场与温度场下微纳米粒子运动的原位观测系统，其特征在于，所述电压控制单元包括信号发生器、电压放大器和电极；所述电极设置于所述样品槽内部；所述电压放大器与所述电极连接，用于将信号发生器的输出电压放大后基于电极向所述样品槽提供均匀或不均匀的电场。 4.根据权利要求3所述的电场与温度场下微纳米粒子运动的原位观测系统，其特征在于，所述电压放大器的放大增益为100V/V或1000V/V。 5.根据权利要求1所述的电场与温度场下微纳米粒子运动的原位观测系统，其特征在于，所述温度控制单元包括温控箱、陶瓷加热圈和温度传感器；所述陶瓷加热圈围绕外腔外壁设置，所述陶瓷加热圈与所述温控箱连接；所述温度传感器设置在传热腔内；所述温控箱与所述温度传感器连接。 6.根据权利要求1所述的电场与温度场下微纳米粒子运动的原位观测系统，其特征在于，所述观测单元为光学显微镜；所述外腔和所述底板放置在所述光学显微镜的载物台上。 7.根据权利要求6所述的电场与温度场下微纳米粒子运动的原位观测系统，其特征在于，所述光学显微镜包括三个消色差物镜插孔，每个插孔使用普通光学目镜或电子目镜。 8.根据权利要求7所述的电场与温度场下微纳米粒子运动的原位观测系统，其特征在于，所述电子目镜采用CMOS高清晰芯片。 9.根据权利要求1～8任一项所述的电场与温度场下微纳米粒子运动的原位观测系统，其特征在于，还包括显示单元，所述显示单元与所述观测单元连接，用于将观测单元观测到的图像进行显示。 10.一种权利要求1～9任一项所述的电场与温度场下微纳米粒子运动的原位观测系统在观测环氧悬浊液中微纳米粒子运动的应用。
所属类别：	发明专利