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原文传递一种适用于碳酸盐岩中低含量元素的原位微区分析方法

专利名称：	一种适用于碳酸盐岩中低含量元素的原位微区分析方法
摘要：	本发明公开了一种适用于碳酸盐岩中低含量元素的原位微区分析方法，所述测试方法在对碳酸盐岩中低含量元素的LA‑ICP‑MS检测中，进行不超过200微米的平面线状短距离移动，在一些优选实施方式中，进一步进行了激光束位置移动调整、载气流速优化的过程，可避免井下分馏效应，获得精度和稳定性显著提供的低含量元素测定结果。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	西南石油大学
发明人：	李雅兰;李飞;李翔
专利状态：	有效
申请日期：	2023-08-17T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-10T00:00:00+0800
申请号：	CN202311034614.7
公开号：	CN117030832A
代理机构：	成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	李鹏
分类号：	G01N27/626;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/626
申请人地址：	610500 四川省成都市新都区新都大道8号
主权项：	1.一种适用于碳酸盐岩中低含量元素的原位微区分析方法，其特征在于，其包括：对碳酸盐岩的测试样品进行激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪测试即LA-ICP-MS测试，测试中在测试样品的表面标记若干扫描起点，即样品点，自各样品点出发对所述测试样品的表面进行直线状的短距离扫描，即短线扫，根据各样品的短线扫数据获得低含量元素的原位微区分析结果，其中，所述短距离扫描为扫描长度不超过200微米的移动扫描。 2.根据权利要求1所述的原位微区分析方法，其特征在于，其具体包括： S1获得碳酸盐岩的采样样品，通过显微观察选择采样样品中目标组构清晰完整的区域作为进行所述短线扫的区域即扫描区，在所述扫描区中任意选择若干点作为所述样品点并进行编号和标记，获得所述测试样品； S2将所述测试样品加载于LA-ICP-MS测试系统中，在所述测试样品的所述扫描区内通过所述短线扫获得分析结果。 3.根据权利要求2所述的原位微区分析方法，其特征在于，所述S1包括： S11对野外采样获得的碳酸盐岩样品进行筛选，选择其中避开脉体、岩石面的新鲜样品作为所述采样样品； S12将所述采样样品制备为厚度70～80μm、大小38mm×24mm、表面抛光至10000目的激光探针片样品； S13在单偏光显微镜和阴极发光显微镜下对所述激光探针片样品进行观察拍照，选择其中目标组构清晰完整的区域作为所述扫描区，在扫描区中任意选择若干点作为所述样品点，将其编号为第1、2、……、n样品点并进行标记； S14对进行S13后的激光探针片样品进行超声清洗，得到所述测试样品。 4.根据权利要求3所述的原位微区分析方法，其特征在于，所述S1还包括： S15将进行超声清洗后的激光探针片样品进行预剥蚀处理，得到所述测试样品，所述预剥蚀处理包括：设定激光剥蚀速率为90μm/s，对超声清洗后的激光探针片样品进行快速剥蚀。 5.根据权利要求2所述的原位微区分析方法，其特征在于，所述S2包括：连接所述LA-ICP-MS测试系统中激光器与质谱仪的双向触发器，使机器预热和调谐30min以上，保持激光剥蚀时间小于质谱仪对单点数据采集时间15s以上，设置载气流速为750ml/min。 6.根据权利要求2所述的原位微区分析方法，其特征在于，所述S2包括：调整所述LA-ICP-MS测试系统中激光器的激光束斑参数为：激光束斑直径为50～80μm，激光束移动速度为2～4μm/s，激光束在样品平面上的移动时间为30s，激光束剥蚀深度不超过10μm，激光束在样品平面上的扫描距离为60～120μm。 7.根据权利要求2所述的原位微区分析方法，其特征在于，所述S2包括： (1)设置若干标准样品，依次对各标准样品进行所述短线扫，每次短线扫完成后及时清扫线路； (2)依次对所述测试样品的样品点进行所述短线扫并及时清理线路，每个样品点短线扫后根据步骤(1)的过程进行一次各标准样品的短线扫，至全部样品点扫描结束后，再根据步骤(1)的过程进行一次各标准样品的短线扫，得到测试数据。 8.根据权利要求7所述的原位微区分析方法，其特征在于，所述测试数据包括碳酸盐岩中低含量元素的浓度。 9.根据权利要求1-8中任一项所述的原位微区分析方法，其特征在于，所述低含量元素包括La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、Y、Na、Al、Sc、Ti、V、Cr、Co、Ni、Zn、Sr、Zr、Ba和Th元素中的一种或多种。
所属类别：	发明专利