详情

原文传递一种玻璃薄膜缺陷检测方法、装置及其系统

专利名称：	一种玻璃薄膜缺陷检测方法、装置及其系统
摘要：	本发明涉及一种玻璃薄膜缺陷检测方法、装置及其系统。该玻璃薄膜缺陷检测方法，该方法包括以下步骤，基于可投射的薄膜，获得贯穿薄膜表面的激光列阵；所述激光阵列至少包括一列线性排列式激光；接收贯穿薄膜表面的激光，获得贯穿薄膜表面后的激光的强度；基于获得的激光列阵的全部强度，获得薄膜缺陷的判断结果；其中，所述薄膜缺陷的判断结果包括不透明的瑕疵结果、孔洞结果与边沿缺损结果；该玻璃薄膜缺陷检测方法、装置及其系统，流程简单，使用灵活，便于在线无损检测薄膜的缺陷使用，并且制备成本低，便于薄膜边加工边检测验证。
专利类型：	发明专利
申请人：	武汉市品持科技有限公司;深圳玩智商科技有限公司
发明人：	王品;胡浩博;龙杰;何英;吕星宏
专利状态：	有效
申请日期：	2023-10-18T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-24T00:00:00+0800
申请号：	CN202311351524.0
公开号：	CN117110309A
代理机构：	北京惟盛达知识产权代理有限公司
代理人：	陈钊
分类号：	G01N21/896;G01N21/01;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/896;G01N21/01
申请人地址：	430223 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区关东街道关南园一路20号当代华夏创业中心1、2、3栋2号楼9层01室(自贸区武汉片区);
主权项：	1.一种薄膜缺陷检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤，基于可投射的薄膜，获得贯穿薄膜表面的激光列阵；所述激光阵列至少包括一列线性排列式激光；接收贯穿薄膜表面的激光，获得贯穿薄膜表面后的激光的强度；基于获得的激光列阵的全部强度，获得薄膜缺陷的判断结果；其中，所述薄膜缺陷的判断结果包括不透明的瑕疵结果、孔洞结果与边沿缺损结果。 2.根据权利要求1所述的一种薄膜缺陷检测方法，其特征在于：所述薄膜与激光列阵相对移动，所述激光列阵于时间周期内，扫描整个薄膜。 3.根据权利要求2所述的一种薄膜缺陷检测方法，其特征在于：所述薄膜或激光阵列线性移动，所述激光阵列的长度于薄膜与激光阵列的移动方向上垂直覆盖薄膜。 4.根据权利要求3所述的一种薄膜缺陷检测方法，其特征在于：获得激光阵列中的各激光发射端与接收端的位置数据，获得薄膜与激光阵列的移动相对速度数据，基于位置数据与相对速度数据，获得激光列阵中各激光的强度，当激光的强度超出或低于预设值时，获得该激光的强度对应的激光的位置数据。 5.根据权利要求4所述的一种薄膜缺陷检测方法，其特征在于：其中，获得激光列阵中全部激光的强度，基于全部激光强度获得该薄膜中的激光强度均值，所述均值即为预设值；或获得无缺陷薄膜的激光强度数据，基于无缺陷薄膜的激光强度数据获得预设值。 6.一种薄膜缺陷检测装置，其特征在于，该装置包括激光光源、透明平台、线性传感器与处理器，所述激光光源可发出至少呈一列线性排列的平行光，薄膜于透明平台的表面铺设，所述激光光源与透明平台可相对移动，所述线性传感器接收透过所述薄膜与透明平台的平行光，所述线性传感器采集的数据输送至处理器内。 7.根据权利要求6所述的一种薄膜缺陷检测装置，其特征在于：所述激光光源或透明平台连接有移动装置，所述移动装置驱动平行光沿整个薄膜表面至少扫描一次。 8.根据权利要求7所述的一种薄膜缺陷检测装置，其特征在于：所述处理器内设置有识别软件，所述识别软件获得线性传感器的数据，获得薄膜缺陷的判断结果，所述判断结果包括缺陷的种类结果与缺陷的位置数据。 9.一种薄膜缺陷检测系统，其特征在于，该系统包括，发生单元，其被配置为发射至少呈一列线性排列的激光穿过薄膜；接收单元，其被配置为接收并获得穿过薄膜的激光以及该激光的强度；处理单元，其被配置为基于激光的强度判断薄膜的缺陷种类以及位置数据；其中，所述呈一列线性排列的激光为平行光，由若干组光束构成；所述接收单元中接收各光束的传感器于处理单元内设置有相应的位置数据，基于传感器的位置数据获得贯穿薄膜表面的激光的强度数据，各强度数据与位置数据相互关联。 10.根据权利要求9所述的一种薄膜缺陷检测系统，其特征在于：该系统还包括移动单元，所述移动单元，其被配置为使发生单元与薄膜相对移动。
所属类别：	发明专利