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原文传递测量系统、方法、自动扶梯系统、通道系统及存储介质

专利名称：	测量系统、方法、自动扶梯系统、通道系统及存储介质
摘要：	本发明涉及一种测量系统、方法、自动扶梯系统、通道系统及存储介质，所述测量系统被配置用于测量分别具有多个台阶单元的自动扶梯系统或通道系统的至少一个第一组件，其中，所述测量系统包括基准系统，所述基准系统分别基于所述自动扶梯系统或通道系统的至少一个另外的组件的尺寸、相对位置、公差中的至少一者来提供至少一个基准。本发明还涉及一种通过确定基准来测量自动扶梯系统或通道系统的至少一个组件的方法。本发明还涉及一种包括用于执行这样的方法的步骤的装置的系统。此外，本发明涉及一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现这样的方法的步骤。
专利类型：	发明专利
申请人：	蒂森克虏伯电梯创新与运营有限公司
发明人：	马丁·哈格;尤尔根·艾莫·戈特;卡洛斯·加西亚·费尔南德斯
专利状态：	有效
申请日期：	2022-04-28T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-07T00:00:00+0800
申请号：	CN202210460723.4
公开号：	CN117003091A
代理机构：	北京铭硕知识产权代理有限公司
代理人：	王锐;沈浩
分类号：	B66B27/00;B66B29/00;B;B66;B66B;B66B27;B66B29;B66B27/00;B66B29/00
申请人地址：	德国杜塞尔多夫
主权项：	1.一种测量系统(10)，所述测量系统被配置用于测量分别具有多个台阶单元(30)的自动扶梯系统(110)或通道系统(120)的至少一个第一组件(130、130a)，其特征在于，所述测量系统包括基准系统(20)，所述基准系统(20)分别基于所述自动扶梯系统或通道系统的至少一个另外的组件(130b、130c)的尺寸、相对位置、公差中的至少一者提供至少一个基准(21)，以用于测量所述台阶单元(30)或分析所述台阶单元的安装情况。 2.根据权利要求1所述的测量系统(10)，其特征在于，所述测量系统被配置用于：基于所述自动扶梯系统或通道系统的所述台阶单元(30)的至少一个台阶(31)与所述自动扶梯系统或通道系统的其他结构的连接/结合，并且基于以所述自动扶梯系统或通道系统的所述台阶单元的至少一个台阶滚轮(34)作为基准和/或基于以所述自动扶梯系统或通道系统的导轨(40)、台阶链滚轮(36)或台阶链滚轮轴(37)作为基准，来测量所述至少一个台阶(31)。 3.根据权利要求1或2所述的测量系统(10)，其特征在于，所述测量系统被配置用于使所述至少一个第一组件的至少一个尺寸(D1)和至少一个公差(T1)关联；并且/或者，其中，所述测量系统被配置用于使所述至少一个第一组件的至少一个相对位置(P1)和至少一个公差(T1)关联；并且/或者，其中，所述测量系统被配置用于使至少两个组件(130a、130b、130c)的至少一个相对位置(P1、P2、P3)和/或至少一个尺寸(D1、D2、D3)与至少一个公差(T1、T2、T3)关联。 4.根据权利要求3所述的测量系统(10)，其特征在于，所述测量系统被配置用于使所述自动扶梯系统或通道系统的所述至少两个组件的所述至少一个尺寸和/或所述至少一个相对位置与所述至少一个公差关联，从而确定是否符合预定义的公差阈值。 5.根据权利要求3所述的测量系统(10)，其特征在于，作为基准的至少一个尺寸(D1、D2、D3)是从以下组中选择的组件的尺寸：C孔(32)、中空轴接触表面(33)、台阶(31)、台阶滚轮轴(35)、台阶滚轮(34)、台阶链滚轮(36)、台阶链滚轮轴(37)、导轨(40)。 6.根据权利要求3所述的测量系统(10)，其特征在于，作为基准的至少一个公差(T1、T2、T3)是从以下组中选择的组件的公差：C孔、中空轴接触表面、台阶、台阶滚轮轴、台阶滚轮、台阶链滚轮、台阶链滚轮轴、导轨。 7.根据权利要求3所述的测量系统(10)，其特征在于，所述测量系统被配置用于：基于与所述基准系统(20)关联的公差系统，来分别确定相应的尺寸(D1、D2、D3)和/或相应的相对位置(P1、P2、P3)和/或相应的公差(T1、T2、T3)的至少一个偏差或阈值，或者针对相应的尺寸(D1、D2、D3)和/或相应的相对位置(P1、P2、P3)和/或相应的公差(T1、T2、T3)来分别确定至少一个偏差或阈值；并且/或者，其中，所述测量系统被配置用于基于以所述至少一个第一组件或所述至少一个另外的组件作为基准的至少一个公差值或公差阈值来分析至少一个组件的位置偏移；并且/或者，其中，所述测量系统被配置用于基于作为基准的至少一个尺寸和/或至少一个公差来校准所述组件(130a、130b、130c)中的至少两个组件的相对位置或位置偏移。 8.一种测量方法，所述测量方法通过根据权利要求1至7中的任一项所述的测量系统(10)来测量分别具有多个台阶单元(30)的自动扶梯系统(110)或通道系统(120)的至少一个第一组件(130a)，其特征在于，所述测量方法包括分别基于所述自动扶梯系统(110)或通道系统(120)的至少一个另外的组件(130b、130c)的尺寸、相对位置、公差中的至少一者来提供至少一个基准(21)，以用于测量所述台阶单元(30)或分析所述台阶单元的安装情况。 9.根据权利要求8所述的测量方法，其中，使所述至少一个第一组件的至少一个尺寸和至少一个公差关联以用于测量和确定基准；并且/或者，其中，使所述至少一个第一组件的至少一个相对位置和至少一个公差关联以用于测量和确定基准；并且/或者，其中，使至少两个组件(130a、130b、130c)的至少一个相对位置和/或至少一个尺寸与至少一个公差关联以用于测量和确定基准；并且/或者，所述方法包括：通过使所述自动扶梯系统或通道系统的所述至少两个组件的所述至少一个尺寸和/或所述至少一个相对位置与所述至少一个公差关联来确定是否符合预定义的公差阈值。 10.根据权利要求8所述的测量方法，其中，所述测量方法包括：通过将从以下组中选择的组件的至少一个尺寸或公差作为基准：C孔(32)、中空轴接触表面(33)、台阶(31)、台阶滚轮轴(35)、台阶滚轮(34)、台阶链滚轮(36)、台阶链滚轮轴(37)、导轨(40)，对所述自动扶梯系统或通道系统的所述组件中的至少一个组件的尺寸和相对位置中的至少一者进行故障分析。 11.根据权利要求8所述的测量方法，其中，通过将所述自动扶梯系统或通道系统的所述台阶(31)或所述台阶单元(30)中的至少一者的尺寸(D1、D2、D3)、相对位置(P1、P2、P3)、公差(T1、T2、T3)中的至少一者作为基准，在自动扶梯系统(110)或通道系统(120)的测试运行期间或作为自动扶梯系统(110)或通道系统(120)的测试运行或在对自动扶梯系统(110)或通道系统(120)进行故障分析的情况下执行所述测量方法。 12.一种自动扶梯系统(110)，所述自动扶梯系统(110)具有用于提供至少一个基准的装置和用于分别测量所述自动扶梯系统的至少一个组件(130、130a、130b、130c)的尺寸、相对位置、公差中的至少一者的装置，所述自动扶梯系统包括根据权利要求1至7中任一项所述的测量系统(10)，其中，所述自动扶梯系统被配置用于执行根据权利要求8-11中任一项所述的测量方法的步骤。 13.一种通道系统(120)，所述通道系统(120)具有用于提供至少一个基准的装置和用于分别测量所述通道系统的至少一个组件(130、130a、130b、130c)的尺寸、相对位置、公差中的至少一者的装置，所述通道系统包括根据权利要求1至7中任一项所述的测量系统(10)，其中，所述通道系统被配置用于执行根据权利要求8-11中任一项所述的方法的步骤。 14.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现根据权利要求8至11中任一项所述的测量方法的步骤。
所属类别：	发明专利