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原文传递片状材料的周期性缺陷检测方法、装置、设备以及介质

专利名称：	片状材料的周期性缺陷检测方法、装置、设备以及介质
摘要：	本发明公开了一种片状材料的周期性缺陷检测方法、装置、设备以及介质。该方法包括：确定目标片状材料以及确定目标片状材料是否存在对应的参考片状材料，目标片状材料中的片材缺陷与参考片状材料中的片材缺陷之间的缺陷位置距离小于预设差值，预设差值用于判断两个片材缺陷是否位于相同位置；若存在，确定目标片状材料中片材缺陷对应的目标缺陷特征信息，以及确定参考片状材料中片材缺陷对应的参考缺陷特征信息；依据目标缺陷特征信息与参考缺陷特征信息，确定目标片状材料上的片材缺陷是否为周期性缺陷。该方法解决了由于光照、颜色、缺陷裁切不全、深浅形貌等原因造成畸变时，无法判别片状材料缺陷类型，从而造成周期性缺陷漏检的问题。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	浙江;33
申请人：	杭州百子尖科技股份有限公司
发明人：	葛铭;魏鹏;魏江;沈井学
专利状态：	有效
申请日期：	2023-09-28T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-07T00:00:00+0800
申请号：	CN202311266235.0
公开号：	CN117007611A
代理机构：	北京品源专利代理有限公司
代理人：	李彩玲
分类号：	G01N21/95;G01N21/88;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/95;G01N21/88
申请人地址：	311121 浙江省杭州市余杭区余杭街道文一西路1818-2号11幢902室
主权项：	1.一种片状材料的周期性缺陷检测方法，其特征在于，应用于片材检测设备，所述方法包括：确定目标片状材料以及确定所述目标片状材料是否存在对应的参考片状材料，所述目标片状材料中的片材缺陷与所述参考片状材料中的片材缺陷之间的缺陷位置距离小于预设差值，所述预设差值用于判断两个片材缺陷是否位于相同位置；若存在，确定目标片状材料中片材缺陷对应的目标缺陷特征信息，以及确定参考片状材料中片材缺陷对应的参考缺陷特征信息，所述缺陷特征信息包括用于衡量片状材料中片材缺陷的缺陷属性的语义空间信息以及用于衡量片状材料中片材缺陷的缺陷属性的视觉空间信息；依据目标缺陷特征信息与所述参考缺陷特征信息，确定所述目标片状材料上的片材缺陷是否为周期性缺陷。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定目标片状材料，包括：对片材生产设备生产的片状材料进行缺陷检测，并将存在片材缺陷的片状材料确定为目标片状材料。 3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述目标片状材料是否存在对应的参考片状材料，包括：检测所述目标片状材料之前收集的候选片状材料中是否存在片材缺陷；若在候选片状材料中检测到存在片材缺陷，则检测存在的片材缺陷的候选片状材料与所述目标片状材料中的片材缺陷之间的缺陷位置距离是否小于预设差值；若小于预设差值，则确定所述存在的片材缺陷的候选片状材料为所述目标片状材料对应的参考片状材料。 4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，检测所述目标片状材料之前收集的候选片状材料中是否存在片材缺陷，包括：在各个片材生产设备生产的候选片状材料被配置为无序收集运送到片材检测设备的情况下，遍历检测所述目标片状材料之前连续收集的预设数量的候选片状材料中是否存在片材缺陷，所述预设数量是基于片材生成设备的设备数量进行确定。 5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，检测所述目标片状材料之前收集的候选片状材料中是否存在片材缺陷，包括：在各个片材生产设备生产的候选片状材料被配置为按照第一收集方式进行收集运送到片材检测设备的情况下，从所述目标片状材料之前连续收集的候选片状材料确定第一片状材料，所述第一片状材料与所述目标片状材料之间间隔着预设数量的候选片状材料，所述第一收集方式为将各个片材生产设备生产的候选片状材料依照各个片材生产设备的次序进行循环收集，在每次循环收集过程中每个片材生产设备生产的候选片状材料收集一次；检测所述第一片状材料中是否存在片材缺陷。 6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，检测所述目标片状材料之前收集的候选片状材料中是否存在片材缺陷，包括：在各个片材生产设备生产的候选片状材料被配置为按照第二收集方式进行收集运送到片材检测设备的情况下，从所述目标片状材料之前连续收集的候选片状材料确定第二片状材料，所述第二片状材料为与所述目标片状材料在同一组进行连续收集且所述目标片状材料的上一个候选片状材料，所述第二收集方式为各个片材生产设备生产的候选片状材料按照不同的片材生产设备进行分组收集，同一组进行连续收集片状材料为同一个片材生成设备生成；检测所述第二片状材料中是否存在片材缺陷。 7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定目标片状材料中片材缺陷对应的目标缺陷特征信息，包括：确定包含有目标片状材料中片材缺陷的目标缺陷图像；通过预设缺陷提取模型从所述目标缺陷图像中提取第一目标缺陷特征信息，所述第一目标缺陷特征信息用于衡量所述目标缺陷图像中片材缺陷的缺陷属性的语义空间信息；通过对目标缺陷图像进行轮廓分割，从所述目标缺陷图像中提取第二目标缺陷特征信息，所述第二目标缺陷特征信息用于衡量所述目标缺陷图像中片材缺陷的缺陷属性的视觉空间信息。 8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定参考片状材料中片材缺陷对应的参考缺陷特征信息，包括：确定包含有参考片状材料中片材缺陷的参考缺陷图像；通过预设缺陷提取模型从所述参考缺陷图像中提取第一参考缺陷特征信息，所述第一参考缺陷特征信息用于衡量所述参考缺陷图像中片材缺陷的缺陷属性的语义空间信息；通过对参考缺陷图像进行轮廓分割，从所述参考缺陷图像中提取第二参考缺陷特征信息，所述第二参考缺陷特征信息用于衡量所述参考缺陷图像中片材缺陷的缺陷属性的视觉空间信息。 9.根据权利要求7或8所述的方法，其特征在于，所述视觉空间信息包括片材缺陷面积、片材缺陷的外接矩形框尺寸、片材缺陷边界周长、片材缺陷的椭圆度及片材缺陷的纹理特征，所述预设缺陷提取模型是基于不同内核大小的二维卷积层模块与InceptionV3模块进行预先训练形成，不同内核大小的二维卷积层模块用于提取不同尺度的图像特征向量，所述InceptionV3模块用于最大限度地减少预设缺陷提取模型中的参数数量。 10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，依据目标缺陷特征信息与所述参考缺陷特征信息，确定所述目标片状材料上的片材缺陷是否为周期性缺陷，包括：确定所述目标缺陷特征信息中语义空间信息与所述参考缺陷特征信息中语义空间信息之间的欧式距离并作为第一欧式距离；确定所述目标缺陷特征信息中视觉空间信息与所述参考缺陷特征信息中视觉空间信息之间的欧式距离并作为第二欧式距离；基于所述第一欧式距离与所述第二欧式距离，确定所述目标片状材料上的片材缺陷是否为周期性缺陷。 11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，基于所述第一欧式距离与所述第二欧式距离，确定所述目标片状材料上的片材缺陷是否为周期性缺陷，包括：将所述第一欧式距离与所述第二欧式距离进行欧式距离加权融合得到融合后欧式距离；基于所述融合后欧式距离确定所述目标片状材料上的片材缺陷与所述参考片状材料上的片材缺陷之间的片材缺陷相似度；依据所述片材缺陷相似度确定所述目标片状材料上的片材缺陷是否为周期性缺陷。 12.一种片状材料的周期性缺陷检测装置，其特征在于，包括：缺陷位置确定模块，用于确定目标片状材料以及确定所述目标片状材料是否存在对应的参考片状材料，所述目标片状材料中的片材缺陷与所述参考片状材料中的片材缺陷之间的缺陷位置距离小于预设差值，所述预设差值用于判断两个片材缺陷是否位于相同位置；缺陷特征信息确定模块，用于若存在，确定目标片状材料中片材缺陷对应的目标缺陷特征信息，以及确定参考片状材料中片材缺陷对应的参考缺陷特征信息，所述缺陷特征信息包括用于衡量片状材料中片材缺陷的缺陷属性的语义空间信息以及用于衡量片状材料中片材缺陷的缺陷属性的视觉空间信息；周期性缺陷确定模块，用于依据目标缺陷特征信息与所述参考缺陷特征信息，确定所述目标片状材料上的片材缺陷是否为周期性缺陷。 13.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-11中任一项所述的片状材料的周期性缺陷检测方法。 14.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-11中任一项所述的片状材料的周期性缺陷检测方法。
所属类别：	发明专利