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原文传递一种米类加工精度的检验方法

专利名称：	一种米类加工精度的检验方法
摘要：	一种米类加工精度的检验方法，主要用于检验大米的加工精度。该方法首先是将待测样品进行加热处理，其加热温度为150℃～250℃，加热时间为1min～25min，使样品的留皮部分变色，再由人工或仪器检验该样品留皮程度，再与标准样品比较，判断出该样品的加工精度。本方法可以消除垩白粒对米类加工精度检验的影响，实现米类加工精度的准确测量；且可替代原染色法，不使用化学试剂，安全环保。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	国家粮食储备局成都粮食储藏科学研究所;株式会社佐竹
发明人：	董德良;张华昌;王杏娟;石恒;马鑫;松岛秀昭;河野元信;石突裕树;江盛贵之
专利状态：	有效
申请日期：	2008-03-31T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200810045086.4
公开号：	CN101551376
代理机构：	成都科奥专利事务所
代理人：	尹光成;余丽生
分类号：	G01N33/10(2006.01)I
申请人地址：	610031四川省成都市青羊区花牌坊街95号
主权项：	1.一种米类加工精度的检验方法。其特征在于：先要将待测样品进行加热处理，使其待测样品米粒留皮的颜色与其它部分的颜色呈现出明显差异，其加热温度控制在150℃～250℃，加热时间为1min～25min，加热结束后取出样品米粒自然冷却，之后再将此冷却后的样品米粒的留皮程度与标准样品进行比较，从而判断出待测样品米粒的加工精度。
所属类别：	发明专利