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测量光学非线性的两次4f相位相干成像方法和装置
| 专利名称： | 测量光学非线性的两次4f相位相干成像方法和装置 |
| 摘要： | 本发明公开了一种测量光学非线性的两次4f相位相干成像装置，主要由 入射光路、测量光路和参考光路构成，入射激光束由分束镜分成两束，一束为 探测光进入测量光路，另一束为参考光，进入参考光路，测量光路中，由第一 凸透镜和第二凸透镜构成4f相位相干成像系统，待测样品放置在第一凸透镜 的焦平面上，在第二凸透镜光路中设有全反镜，探测光自第一凸透镜入射，照 射在待测样品上，透射光经第二凸透镜后，由全反镜反射，反射光再次反向进 入4f相位相干成像系统中，最后由分束镜反射进入CCD相机；参考光路与测 量光路的出射光照射在同一个CCD相机上。本发明利用两次4f相位相干成像 测量材料非线性的装置，提高了系统的测量精度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 苏州大学 |
| 发明人： | 宋瑛林;杨俊义;李常伟;金 肖;税 敏 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-05-27T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200910033969.8 |
| 公开号： | CN101571481 |
| 代理机构： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 |
| 代理人： | 陶海锋 |
| 分类号： | G01N21/45(2006.01)I |
| 申请人地址： | 215123江苏省苏州市苏州工业园区仁爱路199号 |
| 主权项： | 1.一种测量光学非线性的两次4f相位相干成像装置，主要由入射光路、 测量光路和参考光路构成，所述入射光路包括扩束系统、相位光阑(3)和分束 镜(4)，入射激光束由分束镜(4)分成两束，一束为探测光进入测量光路，另一 束为参考光，进入参考光路，所述测量光路中，由第一凸透镜(9)和第二凸透 镜(11)构成4f相位相干成像系统，待测样品(10)放置在第一凸透镜(9)的焦平面 上，其特征在于：在第二凸透镜(11)光路中设有全反镜(12)，所述探测光自第 一凸透镜(9)入射，照射在待测样品(10)上，透射光经第二凸透镜(11)后，由全 反镜(12)反射，反射光再次反向进入4f相位相干成像系统中，最后由分束镜(4) 反射进入CCD相机(8)；参考光路与测量光路的出射光照射在同一个CCD相 机(8)上。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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