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利用前向散射辐射检查物体的方法及其设备
| 专利名称： | 利用前向散射辐射检查物体的方法及其设备 |
| 摘要： | 公开了一种利用前向散射辐射来检查物体的方法和设备，该方法 包括步骤：探测辐射源产生的第一辐射与被检物体相互作用后的第一 穿透值；使辐射源产生的第二辐射与散射体相互作用，以产生与该第 二辐射成预定角度的前向散射辐射；探测该前向散射辐射与被检物体 相互作用后的第二穿透值；以及利用探测的第一穿透值和第二穿透值 来获取该被检物体的材料属性信息。本发明可用在海关、港口、机场 对货物进行不开箱检查，也可用于生物学研究或医学检测。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 发明人： | 王学武;钟华强;李清华;王小兵 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2008-05-09T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200810106278.1 |
| 公开号： | CN101576513 |
| 代理机构： | 中科专利商标代理有限责任公司 |
| 代理人： | 王波波 |
| 分类号： | G01N23/04(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100084北京市海淀区清华大学 |
| 主权项： | 1、一种利用前向散射辐射检查物体的方法，包括步骤： 探测辐射源产生的第一辐射与被检物体相互作用后的第一穿透 值； 使辐射源产生的第二辐射与散射体相互作用，以产生与该第二辐 射成预定角度的前向散射辐射； 探测该前向散射辐射与被检物体相互作用后的第二穿透值；以及 利用探测的第一穿透值和第二穿透值来获取该被检物体的材料 属性信息。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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