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原文传递免疫色谱试验片的测定装置

专利名称：	免疫色谱试验片的测定装置
摘要：	本发明涉及一种测定装置(1a)，其具备：发光元件(21、31)，向免疫色谱试验片(41)照射测定光；光检测元件(22)，检测通过向免疫色谱试验片(41)上的第1位置(带状区域(41c))照射测定光而产生的来自免疫色谱试验片(41)的反射光；光检测元件(32)，检测通过向较第1位置位于下游侧的第2位置(带状区域(41d))照射测定光而产生的来自免疫色谱试验片(41)的反射光；控制部(13)，根据来自光检测元件(22、32)的输出信号，取得从第1位置(带状区域(41c))上的吸光度发生变化起至第2位置(带状区域(41d)) 上的吸光度发生变化为止的时间。
专利类型：	发明专利
申请人：	浜松光子学株式会社
发明人：	山内一德
专利状态：	有效
申请日期：	2007-12-03T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200780049127.0
公开号：	CN101578519
代理机构：	北京尚诚知识产权代理有限公司
代理人：	龙淳
分类号：	G01N33/543(2006.01)I
申请人地址：	日本静冈县
主权项：	1.一种免疫色谱试验片的测定装置，其特征在于，具备：一个或多个光照射部，向免疫色谱试验片照射测定光；第1光检测部，检测通过向所述免疫色谱试验片上的第1位置照射所述测定光而从所述免疫色谱试验片所获得的光；第2光检测部，检测通过向所述免疫色谱试验片上的较所述第1 位置位于下游侧的第2位置照射所述测定光而从所述免疫色谱试验片所获得的光；以及控制部，根据来自所述第1及第2光检测部的输出信号，取得从所述第1位置上的光学特性发生变化起至所述第2位置上的光学特性发生变化为止的经过时间。
所属类别：	发明专利