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测量电致自旋荧光的显微测量系统
| 专利名称： | 测量电致自旋荧光的显微测量系统 |
| 摘要： | 本发明一种测量电致自旋荧光的显微测量系统，其特征在于，包括： 一显微拉曼光谱仪、一宽波段线偏振片和一宽波段四分之一波片，所述的 显微拉曼光谱仪、宽波段线偏振片和宽波段四分之一波片相距一预定距 离，且位于同一光路上；一磁体系统；一数字电压源表，该数字电压源表 与磁体系统并联；一超长工作距离显微物镜，该超长工作距离显微物镜位 于宽波段四分之一波片和磁体系统之间，且在同一光路上。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 发明人： | 肖文波;郑厚植;徐 萍;鲁 军;刘 剑;李桂荣;谭平恒;赵建华;章 昊;朱 汇;甘华东;李蕴慧;朱 科;吴 昊;张 泉;袁思芃;罗 晶;申 超;李 科 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2008-05-14T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200810106706.0 |
| 公开号： | CN101581672 |
| 代理机构： | 中科专利商标代理有限责任公司 |
| 代理人： | 汤保平 |
| 分类号： | G01N21/66(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100083北京市海淀区清华东路甲35号 |
| 主权项： | 1、一种测量电致自旋荧光的显微测量系统，其特征在于，包括： 一显微拉曼光谱仪、一宽波段线偏振片和一宽波段四分之一波片，所 述的显微拉曼光谱仪、宽波段线偏振片和宽波段四分之一波片相距一预定 距离，且位于同一光路上； 一磁体系统； 一数字电压源表，该数字电压源表与磁体系统并联； 一超长工作距离显微物镜，该超长工作距离显微物镜位于宽波段四分 之一波片和磁体系统之间，且在同一光路上。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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