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强磁场环境和液氮温度下的自旋相关输运测量系统
| 专利名称： | 强磁场环境和液氮温度下的自旋相关输运测量系统 |
| 摘要： | 一套强磁场环境和液氮温度下的自旋相关输运测量系统，包括：一液氮杜瓦；一手动五维调节平台，放置液氮杜瓦，用于调节液氮杜瓦的空间位置；一钕铁硼永磁体，同轴地套在液氮杜瓦的铝套筒外侧，用于提供测量的强磁场环境；一电动一维平移台，位于钕铁硼永磁体下方；一手动一维升降台，位于电动一维平移台下方，用于调节钕铁硼永磁体和液氮杜瓦的相对位置；一超长工作距离物镜，位于液氮杜瓦的光学窗口的正前方，用于聚焦激发光到样品、以及收集并准直样品发出的荧光；一宽波段偏振非敏感分束棱镜，位于钕铁硼永磁体的通孔的一侧；一荧光光路，从样品出射，并经过超长工作距离物镜准直到垂直于光学窗口的方向；一激发光光路，与荧光光路正交于宽波段偏振非敏感分束棱镜。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 发明人： | 吴昊;郑厚植;谭平恒;章昊;朱汇;申超 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-07-08T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200910088590.7 |
| 公开号： | CN101943664A |
| 代理机构： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
| 代理人： | 汤保平 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100083 北京市海淀区清华东路甲35号 |
| 主权项： | 一套强磁场环境和液氮温度下的自旋相关输运测量系统，该系统包括：一液氮杜瓦，该液氮杜瓦底部一侧有一紫铜冷指，用于放置样品，使样品达到液氮温度，该冷指外部同轴地套有一铝套筒，用于保护冷指所处的真空环境，该套筒顶端开有一石英光学窗口，用于通过激发光和荧光；一手动五维调节平台，放置液氮杜瓦，用于调节液氮杜瓦的空间位置；一钕铁硼永磁体，开有一通孔，该钕铁硼永磁体的通孔同轴地套在液氮杜瓦的铝套筒外侧，用于提供测量的强磁场环境；一电动一维平移台，位于钕铁硼永磁体下方，用于调节钕铁硼永磁体和液氮杜瓦的相对位置；一手动一维升降台，位于电动一维平移台下方，用于支撑钕铁硼永磁体和电动一维平移台，以及调节钕铁硼永磁体和液氮杜瓦的相对位置；一超长工作距离物镜，位于液氮杜瓦的光学窗口的正前方，用于聚焦激发光到样品、以及收集并准直样品发出的荧光；一宽波段偏振非敏感分束棱镜，位于钕铁硼永磁体的通孔的一侧；一荧光光路，从样品出射，并经过超长工作距离物镜准直到垂直于光学窗口的方向；一激发光光路，与荧光光路正交于宽波段偏振非敏感分束棱镜。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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