专利名称: | 一种X-射线衍射仪测定超细粉末的制样方法 |
摘要: | 本发明涉及一种X-射线衍射仪测定超细粉末的制样方法,其特征在于其制品过程的步骤 依次包括:(1)首先在玛瑙研钵中把团聚的超细粉末研开;(2)取一平板玻璃水平放置, 将一载玻片放置在平板玻璃上;(3)将样品盒拿掉后盒盖,倒扣放到载玻片上;(4)将研 开后的超细粉末充填到样品盒中,充填的超细粉末的充满压实后,料面与样品盒帮高度平齐; (5)然后盖上样品盒后盒盖,将充填了超细粉末的样品盒和载玻片扣紧一同翻转过来,拿掉 载波片,将与载玻片接触超细粉沫面作为X-衍射的测试面,制得测试样。本发明方法制得的 超细粉末X-衍射样品表面平整,无明显择优取向,重现性好,不需要专业设备,方法简单, 成本低廉,操作方便。 |
专利类型: | 发明专利 |
国家地区组织代码: | 北京;11 |
申请人: | 中国铝业股份有限公司 |
发明人: | 李 波;郭永恒;李荣柱 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2009-06-24T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN200910087747.4 |
公开号: | CN101587035 |
代理机构: | 中国有色金属工业专利中心 |
代理人: | 李迎春 |
分类号: | G01N1/28(2006.01)I |
申请人地址: | 100082北京市海淀区西直门北大街62号 |
主权项: | 1.一种X-射线衍射仪测定超细粉末的制样方法,其特征在于其制品过程的步骤依次包括: (1)首先在玛瑙研钵中把团聚的超细粉末研开; (2)取一平板玻璃水平放置,将一载玻片放置在平板玻璃上; (3)将样品盒拿掉后盒盖,倒扣放到载玻片上; (4)将研开后的超细粉末充填到样品盒中,充填的超细粉末的充满压实后,料面与样品 盒帮高度平齐; (5)然后盖上样品盒后盒盖,将充填了超细粉末的样品盒和载玻片扣紧一同翻转过来, 拿掉载波片,将与载玻片接触超细粉沫面作为X-衍射的测试面,制得测试样。 |
所属类别: | 发明专利 |