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一种X-射线衍射仪测定超细粉末的制样方法
| 专利名称： | 一种X-射线衍射仪测定超细粉末的制样方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种X-射线衍射仪测定超细粉末的制样方法，其特征在于其制品过程的步骤 依次包括：(1)首先在玛瑙研钵中把团聚的超细粉末研开；(2)取一平板玻璃水平放置， 将一载玻片放置在平板玻璃上；(3)将样品盒拿掉后盒盖，倒扣放到载玻片上；(4)将研 开后的超细粉末充填到样品盒中，充填的超细粉末的充满压实后，料面与样品盒帮高度平齐； (5)然后盖上样品盒后盒盖，将充填了超细粉末的样品盒和载玻片扣紧一同翻转过来，拿掉 载波片，将与载玻片接触超细粉沫面作为X-衍射的测试面，制得测试样。本发明方法制得的 超细粉末X-衍射样品表面平整，无明显择优取向，重现性好，不需要专业设备，方法简单， 成本低廉，操作方便。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国铝业股份有限公司 |
| 发明人： | 李 波;郭永恒;李荣柱 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-06-24T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200910087747.4 |
| 公开号： | CN101587035 |
| 代理机构： | 中国有色金属工业专利中心 |
| 代理人： | 李迎春 |
| 分类号： | G01N1/28(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100082北京市海淀区西直门北大街62号 |
| 主权项： | 1.一种X-射线衍射仪测定超细粉末的制样方法，其特征在于其制品过程的步骤依次包括： (1)首先在玛瑙研钵中把团聚的超细粉末研开； (2)取一平板玻璃水平放置，将一载玻片放置在平板玻璃上； (3)将样品盒拿掉后盒盖，倒扣放到载玻片上； (4)将研开后的超细粉末充填到样品盒中，充填的超细粉末的充满压实后，料面与样品 盒帮高度平齐； (5)然后盖上样品盒后盒盖，将充填了超细粉末的样品盒和载玻片扣紧一同翻转过来， 拿掉载波片，将与载玻片接触超细粉沫面作为X-衍射的测试面，制得测试样。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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