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原文传递一种新型X射线衍射仪制样工具

专利名称：	一种新型X射线衍射仪制样工具
摘要：	本实用新型公开了一种新型X射线衍射仪制样工具，该工具包括样品台、样品槽、筛网、和刮片，其中样品槽位于样品台内部；筛网平行于样品台之上，并与样品槽上下对应；刮片倾斜置于样品台上，并且一边与样品台紧密贴合。该工具制样更加均匀，减小测试带来的系统误差，提高测试结果的稳定性和重现性。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京当升材料科技股份有限公司
发明人：	王文波;景燕;刘亚飞;陈彦彬
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201820068166.0
公开号：	CN207742133U
分类号：	G01N23/2202(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/2202
申请人地址：	100160 北京市丰台区南四环西路188号总部基地18区21号
主权项：	1.一种新型X射线衍射仪制样工具，其特征在于包括筛网、刮片、样品台、和样品槽，其中，所述样品槽位于样品台内部；所述筛网平行于样品台之上，并与样品槽上下对应；所述刮片倾斜置于样品台上，并且一边与样品台紧密贴合。
所属类别：	实用新型