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原文传递 X射线衍射数据分析系统

专利名称：	X射线衍射数据分析系统
摘要：	本发明属于晶体结构的分析领域，具体涉及一种X射线衍射数据分析系统，包括格式转换模块、数据处理模块、数据分析模块、批处理模块、计算服务模块、资源统计服务模块、用户认证模块。本发明提供的X射线衍射数据分析系统，可以批量进行数据处理，结合人工智能技术，增强数据采集能力，是一种更高效的指标化方法，丰富的可视化分析，能有效的降低人工成本。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳晶泰科技有限公司
发明人：	王炎;刘雪涛;张万超;雷焱森;刘阳;温书豪;马健;赖力鹏
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-20T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-07T00:00:00+0800
申请号：	CN201811563260.4
公开号：	CN109725013A
代理机构：	深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙)
代理人：	胡玉
分类号：	G01N23/2005(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	518000 广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区华联工业区9号4层
主权项：	1.X射线衍射数据分析系统，其特征在于，包括如下模块：格式转换模块，基于数据来源的多样式，提供多种原始数据的数据格式转换，包含如下两种类型的数据：分子或晶体结构数据，粉末衍射数据或峰数据；数据处理模块，用于对粉末衍射数据进行去噪、去本底减背景及数据识别；数据分析模块，用于对粉末衍射数据进行分析；批处理模块，用于编辑工作流、运行工作流；计算服务模块，利用各种算法库封装的计算单元，这些计算单元被打包发布为 Docker镜像，通过任务调度系统传参调用；资源统计服务模块，提供精确到任务级的计算资源消耗统计，为成本控制提供有效依据；用户认证模块，对用户信息进行认证。 2.根据权利要求1所述的X射线衍射数据分析系统，其特征在于，所述的数据分析模块，分析的内容包括寻峰、求面积、重心、积分宽、比对衍射图、聚类及指标化。 3.根据权利要求1所述的X射线衍射数据分析系统，其特征在于，所述的编辑工作流，定义对样本数据处理的工作流，对大量同类型的数据进行批量处理，结合人工智能，提高工作效率。 4.根据权利要求1所述的X射线衍射数据分析系统，其特征在于，所述的资源统计服务模块，包括任务查询、资源统计功能。
所属类别：	发明专利