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一种X射线衍射原位分析用拉伸装置
| 专利名称： | 一种X射线衍射原位分析用拉伸装置 |
| 摘要： | 本实用新型公开了属于材料微结构测试技术领域的一种X射线衍射原位分析用拉伸装置。主要包括样品拉伸支架，传感器支架，拉伸杆，力传感器以及信号放大器和显示仪表。样品拉伸支架、a拉伸杆、b拉伸杆、a螺母和b螺母为样品拉伸支架部分，能与其他部分分离。拉伸支架为整体45号钢制作。挡板上加工有方形槽和扁圆型孔。拉伸杆为8.8级螺杆并加工为扁圆型，其一端加工为样品连接结构；传感器支架采用活动的侧板和挡板联接并与样品拉伸支架组合；力传感器、放大器以及显示仪表组成样品拉力的测量和读取系统。该装置结构简单，使用方便，成本低，而且扩展性能好。 |
| 专利类型： | 实用新型专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京有色金属研究总院 |
| 发明人： | 王书明;马通达;王福生;张丽民;尹向前 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2010-08-25T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201020505748.4 |
| 公开号： | CN201765201U |
| 代理机构： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 |
| 代理人： | 童晓琳 |
| 分类号： | G01N23/20(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100088 北京市新街口外大街2号 |
| 主权项： | 一种X射线衍射原位分析用拉伸装置，其特征在于：该拉伸装置主要包括样品拉伸支架(1)，拉伸杆，力传感器(6)，传感器支架，放大器(10)及显示仪表(11)六个部分；样品拉伸支架(1)为整体制作而成，包括两挡板(13)和两侧板(12)，并在样品拉伸支架(1)两挡板(13)上各加工一个孔，在样品拉伸支架(1)四角加工安装孔，以便与衍射仪样品台进行连接；拉伸杆由a拉伸杆(2)和b拉伸杆(3)组成，a拉伸杆(2)和b拉伸杆(3)分别穿过样品拉伸支架挡板(13)上的孔，a拉伸杆(2)和b拉伸杆(3)均由螺杆加工，并在连接试样的一端加工了样品连接结构，样品安装在a拉伸杆(2)和b拉伸杆(3)的样品连接结构上，样品拉伸支架(1)挡板外侧a拉伸杆(2)和b拉伸杆(3)上分别设置a螺母(4)和b螺母(5)，a螺母(4)和b螺母(5)用于调节样品的拉力；传感器支架由一挡板(7)和两侧板(8)组合而成，两侧板均安装于挡板(7)上；力传感器(6)一端安装于传感器支架挡板(7)上，另一端与a拉伸杆(2)或b拉伸杆(3)相连，力传感器(6)经放大器(10)与显示仪表(11)相连，由显示仪表(11)直接读取拉伸杆传递的拉力值；样品拉伸支架(1)、a拉伸杆(2)、b拉伸杆(3)、a螺母(4)和b螺母(5)为样品拉伸支架部分，能与其他部分分离。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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